中古 JAM JSM 7000F #9260023 を販売中

JAM JSM 7000Fは、様々な研究環境における微小な試料の表面特徴および組成の観察に使用される走査型電子顕微鏡（SEM）です。この装置は、原子レベルで非常に高解像度の画像を生成することができます。さまざまな用途に最適な多彩な機能を備えています。JSM 7000Fの有効サンプリング面積は11 cm2で、解像度は0。2〜50 nmです。最大10kVの加速電圧を持ち、鮮明な画像処理と高感度を実現します。この顕微鏡にはインレンズ電磁界（EMF）検出器も装備されており、低エネルギー信号の検出を改善し、ノイズを低減します。ビーム電流も調整可能で、ユーザーは非常に高いコントラストとディテールの画像を得ることができます。この顕微鏡は、手動で調整可能な2段の磁気レンズシステムを備えており、最大解像度と適切な画像処理結果を得ることができます。さらに、スキャンはしごシステムは、異なる倍率設定で複数の画像を同時に取得することができます。このシステムは、スキャン速度と信号取得の持続時間を制御するためにも使用できます。JAM JSM 7000Fには自動試料交換（ASE）機能が搭載されており、試料を素早く正確に、安全に交換することができます。ASEは、空気冷却技術と液冷技術の両方を必要とする試料に使用できます。この機能により、さまざまな種類の要素や材料組成物の分析も可能になります。内蔵の検出器は、明るいフィールドまたは暗いフィールドのいずれかの設定で画像を生成することができます。さらに、電子後方散乱回折（EBSD）検出器を使用して画像を処理および分析することもでき、研究者はそれぞれのサンプルの結晶方向を理解することができます。全体として、JSM 7000Fは比類のないイメージングおよび分析機能を提供します。電子ビーム照射や自動標本交換機能を低減し、高解像度イメージングを実現しました。これにより、さまざまな研究環境における小さなサンプルの分析に最適です。