中古 JAM 7001f #9243701 を販売中

JAM 7001fは、焦点を当てた微粒子ビームを用いて表面のデジタル画像を実現する走査型電子顕微鏡（SEM）です。二次電子（SE）イメージング、後方散乱電子（BSE）、伝達電子（TE）イメージングを利用して、7001fは最大100,000X倍率で標本の強力な顕微鏡分析を提供します。JAM 7001fには、直径約1ナノメートルの非常に集中したスポットを作成する単色電子銃があります。この電子ビームが物体の表面をスキャンすると、サンプルの特性に対応する信号が生成されます。SE画像は電子放出などの原子特性を表し、BSE画像は原子数コントラストを示し、TE画像は原子位置を提供します。これにより、SEMは試料の表面の細部までの画像を作成することができます。7001fのgenScan機能により、標本全体の自動スキャンが可能になり、より包括的で詳細な分析が可能になります。さらに、genXR自動パターン認識ツールにより、効率的な定性的および定量的なデータを収集することができます。JAM 7001fは、高品質のイメージング解像度と卓越した感度を提供する、最も先進的で信頼性の高いイメージングシステムの1つです。この顕微鏡は、完全に囲まれた標本室、改良された真空ポンプ、およびサンプルのより良い安定性、遮蔽、保護を提供する内蔵標本ホルダーを備えています。7001fはまた、ツール、データベース、3D体積データ、カスタムアルゴリズムの自動インターフェースを組み込むことができるオープンソフトウェア設計を備えています。また、高度な画像処理、3Dイメージレンダリング、バッチ処理機能を備えたImageVision™イメージングソフトウェアも含まれています。要約すると、JAM 7001fは、高解像度イメージング、正確なフィーチャー測定、包括的な分析を必要とする人にとって優れた選択肢です。自動化されたスキャン、堅牢なハードウェア設計、強力なイメージングソフトウェアにより、7001fは多種多様なSEMアプリケーションに最適です。