中古 ISI SX 40 #187345 を販売中

ISI SX 40は、高レベルの微細構造解析用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。ISI SX40は電子位相コントラストを使用しており、微細構造の詳細な観察が可能です。顕微鏡は15,000Xまで拡大が可能です。高解像度の電子鏡を備え、画像の歪みを低減し、標本の鮮明でシャープな画像を提供します。また、SX 40には画像と自動バックグラウンドエフェクトの自動統合機能が搭載されており、簡単な解析が可能です。SX40は、穀物、沈殿物、および低コントラストの微粒子成分などの微細構造を分析するために使用できます。また、ボイド、格子欠陥、および微細構造の特徴を検出するために使用することができます。ISI SX 40は、セラミックコンデンサ、微粉末、薄膜などの立体物の解析が可能です。ISI SX40には、自動化されたデータ収集装置と、効率的なデータ処理のための自動位置決めシステムなど、一連のユーザーフレンドリーな機能があります。また、サンプル画像の後処理も可能です。SX 40は、リアルタイム制御機やプリセットスキャナ機能などの高度な制御機能も備えています。SX40は、機械的強度の高いサンプルから壊れやすいマイクロメカニカル構造のサンプルまで、幅広い用途に適しています。この顕微鏡は、分散エッジや収束および分散フィーチャーなどの微小機械的特徴の観察を行うことができます。ISI SX 40は、カメラの自動振動、低ノイズスナップショット取得、精度向上など、さまざまな機能を備えています。さらに、顕微鏡には専用のユーザーインターフェイスがあり、ユーザーはSEMの多数の機能を管理および制御することができます。ISI SX40は、顕微構造解析に最適な汎用性の高い顕微鏡です。高解像度で自動化された機能により、サンプルを簡単かつ効率的に分析できます。それは研究および産業適用のための理想的な顕微鏡です。