中古 ISI SS40 #36254 を販売中

ISI SS40 Scanning Electron Microscope （SEM）は、材料科学、生命科学などの分野で高分解能イメージング用に設計された分析機器です。マクロスコーピックスケールからナノスケールまで、多種多様なサンプルをイメージングし、原子レベルまでの特徴を測定することができます。SEMは、サンプルの表面と検出器の上に散乱タングステンフィラメント源から放出された電子ビームを利用します。このイメージングは真空環境で行われ、電子が標本の乱れない状態を通過することを可能にします。ビームとサンプルの相互作用を観察することで、分子レベルの詳細な画像を得ることができます。SS40 SEMには収差補正電子レンズが搭載されており、50 nm以下の微細な特徴を直接撮影することができます。また、優れた感度と信号対ノイズ比を実現する高度なピクセル検出器を備えています。ISI SS40は、表面の特徴、化学、地形、組成などを分析するための幅広い機能を使用して、分析およびイメージングアプリケーションの両方に最適化されています。AFMD （Algorithm Assisted Analytical Feature Measurement Detector）と統合された画像ステッチシステムを備えています。AFMDは、微細な特徴の位置を正確に測定し、平面内と平面外の両方の結晶方向を測定することができます。さらに、SS40は、同時スキャン電子と分光イメージングを得ることができる相関イメージングモードを提供することができます。ISI SS40には、効率性、正確性、利便性を高めるために特別に設計された他の多くの機能が含まれています。ステージ調整を自動化した自動化された低真空アライメントシステムと、スパッタリングまたはクリーニング操作用のマイクロ波プラズマ源を内蔵しています。また、自動化されたサンプラーインターフェイスと人間工学に基づいたユーザーインターフェイス、「簡単にアクセス」タッチコントロールとグラフィックインターフェイスを備えています。SS40は、ナノスケールの特徴とプロセスを研究するための非常に強力な装置です。分析およびイメージング機能から自動ツールやシステムまで、ISI SS40は幅広いサンプルの高解像度イメージングと分析を容易にするように設計されています。