中古 ISI SS40 #114649 を販売中

ISI SS40 Scanning Electron Microscope （SEM）は、幅広い高解像度イメージングおよび元素解析アプリケーションに使用される汎用性の高い機器です。その最も顕著な特徴は、0。5 nmまでの解像度で画像を生成できることであり、ナノスケールのイメージングと解析に最適です。SEMの中心には、フィラメントまたは電界放出陰極という電子源があります。この源は、試料室で固定されている試料全体でスキャンされた電子の流れを放出します。これらの電子が試料と相互作用するため、SEMの検出器によって二次電子信号が放出され、検出されます。これらの信号は増幅され、標本を視覚化するためにSEMのモニターに表示されます。SEMはまた、ユーザーがサンプルの特性をよりよく理解することを可能にする検出器の範囲を備えています。これらには、二次電子検出器とエネルギー分散X線分光検出器が含まれ、どちらもサンプルの元素情報を与えることができます。ISIS SS40は、標準カラムからより高度な中高電圧（MV）カラムまで、電子光学カラムの選択肢も提供しています。SEMには画像キャプチャソフトウェア（ICS）も搭載されており、高解像度の画像、ビデオ、サンプルの定量測定をキャプチャできます。リアルタイムイメージ強化ツールを搭載しており、画像の操作が容易になり、構造を明確に可視化できます。ISI SS40のコンパクトで人間工学に基づいた設計により、研究室での簡単な輸送とセットアップが可能です。高さ調節可能なステージ、倍率設定の範囲、交換可能なレンズの配列を備えているため、さまざまな種類のサンプルや実験に簡単にカスタマイズできます。汎用性、信頼性、および重いイメージング機能を備えたハイエンドSEMをお探しの方には、SS40 Scanning Electron Microscopeが理想的な選択肢です。高解像度のイメージングと元素分析機能により、ユーザーはその下に置かれた標本をよりよく理解することができます。