中古 ISI / AKASHI DS 130C #9119618 を販売中

ISI / AKASHI DS 130C
ID: 9119618
Scanning electron microscope, (SEM).
ISI/AKASHI DS 130Cは、広い視野と優れた画像解像度を持つ高度な走査型電子顕微鏡(SEM)です。同軸照明装置と高感度カメラシステムを搭載し、優れたイメージング性能を発揮します。SEMは、最大2nmの分解能を持つ完全透過型電子顕微鏡(TEM)グリッドをスキャンすることができます。このユニットは、優れたクロマティックデータおよびトポグラフィデータ分析を提供し、ユーザーが材料研究に貴重な洞察を得ることができます。SEMは2。5xから52。5xまで及ぶさまざまなサンプルステージおよび調節可能な拡大を提供します。また、数ナノメートルから数ミクロンまでの幅広い作業距離で使用することができます。このマシンには、超低真空スキャンチャンバー、およびサンプリングエラーを最小限に抑えるための低ノイズスキャンステージが装備されています。ISI DS 130Cは、直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスを備えており、画像キャプチャ、処理、および分析のための高度な機能を提供します。また、ローカライズされた標本の特徴を検出するための強力な明るいフィールドおよび暗いフィールド分析モードが含まれており、標本の詳細なビューを得ることができます。このツールのデジタル収集アセットにより、高いスループットと解像度でキャプチャできます。最大16枚の同じ標本の画像を異なる倍率で保存でき、画像はJPEGまたはTIF形式で保存できます。SEMにはオートフォーカスモデルも内蔵されており、選択した試験片パラメータに従って自動的にフォーカスを調整します。SEM解析に加えて、伝送電子顕微鏡(TEM)にも使用できます。このマイクロトームアタッチメントは、TEM解析用の薄い試料の切断をサポートします。また、紫外放射線分析の補助アタッチメントも付属しており、幅広い材料研究に適しています。AKASHI DS 130Cは、幅広い研究課題に対応できる信頼性の高いSEMです。直感的なユーザーインターフェイスと包括的なイメージング機能により、最も複雑なタスクにも最適です。
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