中古 HITACHI WB-3100 #9256081 を販売中

製造業者
HITACHI
モデル
WB-3100
ID: 9256081
Wafer bump inspection system.
HITACHI WB-3100は、電子カラムを利用して標本の画像を作成する走査型電子顕微鏡(SEM)の一種です。その柱には、二次電子検出器、背面散乱電子検出器、エネルギー分散X線検出器など、いくつかの検出器が装備されています。このSEMは、動作電圧が0。2〜30kV、偏光ダイヤフラムを備えたコイル状の電子銃を備えています。磁気レンズを使用して、電子ビームを試料に集中させます。自動レベル検出器も実装されており、正確なフォーカス位置決めが可能です。この装置は、最大124mm x 86mmの広い観察フィールドを備えています。また、20倍から約1600倍まで、幅広い倍率を提供しています。フィールド放射銃の助けを借りて、それは安定したビーム電流とより速いイメージ投射を可能にします。最大10メガピクセルカメラを搭載した革新的なデジタルカメラ機器が付属しています。これは、より良い解像度と色精度で画像をキャプチャするのに役立ちます。カメラシステムは、内部メモリに画像を保存するためのイメージメモリ機能も備えています。この顕微鏡は高速かつ高精度な制御ユニットを備えており、ステップサイズと電子ビーム角を最適化したスムーズなスキャンが可能です。また、45度〜60度の傾き角度を正確に調整できるオートアライメントマシンも実装されています。WB-3100は完全にユーザーフレンドリーで、インタラクティブで包括的な操作画面があります。また、自動自己校正とメンテナンスサイクル、欠陥検査モード、試験片の傾き機能、さまざまな事前プログラムされた動作モードなど、幅広い機能を提供します。この装置には、元素分析用のEDS (Energy Dispersive X-Ray Spectrometer)も装備されています。低ノイズ検出器を備えており、微量の要素を検出することができます。最後に、顕微鏡には振動分離テーブルが付属しており、機器による振動の吸収を大幅に低減し、スムーズな画像処理を実現します。
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