中古 HITACHI WA 3300 #9240766 を販売中

HITACHI WA 3300 Scanning Electron Microscope （SEM）は、高倍率かつ高い空間分解能で材料や表面のイメージングと解析を行う強力なツールです。このSEMは、直感的なユーザーインターフェイスで簡単に操作できるだけでなく、幅広いアプリケーションに適したさまざまな高性能機能を備えています。HITACHI WA3300は、優れた明るさと安定性を備えた堅牢な電子放射を生成することができる高性能タングステンフィラメント電子源を備えています。これにより、毎回最高品質の画像が保証されます。WA-3300には高倍率システムが搭載されており、オペレータは5nmまでのサイズの特徴をイメージすることができます。その高度なイメージング技術と高度なエレクトロニクスは、画像を高め、繊細な表面の特徴を明らかにし、サンプルをナノスケールで正確に測定および分析する能力を提供するためにも使用できます。WA 3300はまた、強力なフィルタリングとコントラスト強化システムを備えており、高倍率で見つけるコントラストをよりよく視覚化できます。HITACHI WA-3300 SEMの光学部品は安定性が高く、時間をかけて良好な位置合わせを維持するように設計されています。スキャンステージも精度が高く、0。2mm以上の位置決め精度を内蔵しています。これにより、高倍率でも正確なスキャンとフォーカス制御が可能です。WA3300には、幅広い検出器も含まれています。これらには、BSE検出器、SE検出器、および後方散乱電子検出器が含まれます。また、HITACHI WA 3300は、共軸光、バックレンズ、暗視野レンズなど、幅広い光学素子を取り付けることができます。これらのコンポーネントは、表面の特徴と組成の調査を行うために使用することができます。HITACHI WA3300は、優れた画質を提供するだけでなく、多くの安全機能も備えています。これらには、リモートシャットダウン機能と過剰なレベルの電子放射に対する保護が含まれます。WA-3300には、調節可能なカメラスタンドと独自のコンピュータも備えており、SEMの活動を遠隔操作およびデータロギングできます。WA 3300は高度な走査型電子顕微鏡で、強力なイメージング・解析機能、高い精度と安定性、幅広い検出器や光学部品を提供し、高性能を実現しています。この柔軟性と信頼性により、日立WA-3300は、幅広いラボおよび産業用途のニーズに対応することができます。