中古 HITACHI WA 1300 #182689 を販売中

HITACHI WA 1300
製造業者
HITACHI
モデル
WA 1300
ID: 182689
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2010
Atomic Force Microscope, 12" 2010 vintage.
HITACHI WA 1300は、マクロ物体の観察に特化した走査型電子顕微鏡(SEM)です。SEM-FIBに分類され、フィールド放射SEMの機能とフォーカスイオンビーム(FIB)を組み合わせて、高解像度の画像と分析データを作成します。HITACHI WA-1300は、電界放出電子源、検出器、銃口レンズ装置を内蔵したメインステージ、集中イオンビーム(FIB)装置を備えたセカンダリ・ステージなど、独自のデュアルステージ設計を採用しています。これにより、多目的な操作が可能になり、顕微鏡をイメージングと解析の両方に使用することができます。エネルギー分散型X線分光法(EDS)により、高分解能の二次電子画像や組成データを生成することができます。FIBを組み込むことで、これまでにないサンプル分析が可能になり、高解像度イメージング、材料組成解析、ナノ加工が可能になります。WA 1300は、SEM画像解析の解像度をナノレベルに高める高度なソリッドステート検出システムを採用しています。このセンサは、4つの分割検出器で構成されており、結果の信号対ノイズ比と精度を向上させます。また、信号ノイズを低減し、画像の解像度を最大化する統合信号処理ユニットを備えています。さらに、自動化されたステージコントロールマシンにより、より迅速で正確なサンプルの集中とスキャンが可能になります。広範WA-1300倍率のサンプルを分析することもできます。この顕微鏡は、直径300mmまでのサンプルを処理できる自動スキャンステージを備えており、500mmまでのサンプルサイズで簡単に再構成できます。光学倍率範囲は30X-20,000Xで、解像度は0。05ナノメートルまでで、最大50 nmの深度分解能を達成できます。全体的に、HITACHI WA 1300は、ユーザーフレンドリーなパッケージで強力な分析およびイメージング機能を提供する高度なSEM-FIBです。そのデュアルステージ設計、包括的な検出ツール、自動スキャンステージ、および幅広い解像度と倍率オプションにより、さまざまな研究および産業用途に最適なツールです。
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