中古 HITACHI TM-3030 #9067359 を販売中

HITACHI TM-3030は、半導体から生体試料まで幅広い用途に対応する高解像度イメージングを可能にする走査型電子顕微鏡（SEM）です。TM-3030は、3ウェイ試料ホルダーとの迅速なサンプル交換と、安定したイメージングのためのゼロメンテナンス、熱安定化されたSE検出器を提供します。コールドFEG （Field Emission Gun）ソースは、さまざまな電力および加速電圧を介して高速で高コントラストのイメージングを可能にします。ソースと検出器の自動整列システムは、簡単なセットアップとメンテナンスを提供します。HITACHI TM-3030は、ワイドエリアイメージング（WAI）用大面検出器を内蔵しています。WAIは低倍率で大面積の概要を提供し、分解能を損なうことなく観測時間を短縮します。X-Yの移動が145mm x 100mmのモーターを備えたステージは、大きなサンプルや複数のポイントのハイスループットスキャンを可能にします。オプションのカラーマッピングチャネルを使用TM-3030と、信号の複数のコンポーネントに基づいて3Dカラーイメージを生成できます。これにより、複雑な構造とより詳細な可視化が可能になります。また、HITACHI TM-3030は、試料中の粒子の同定やサイズ設定に使用できる粒子解析システムを内蔵しています。このソフトウェアは、最大1000個の粒子のデータを収集し、粒子径、面積、数、および表面粗さの統計を提供することができます。TM-3030は、包括的な画像処理機能を提供するユーザーフレンドリーで直感的なソフトウェアパッケージによって制御されます。これには、コントラストと明るさ、シャープネス調整、ヒストグラムの読み出し、関心領域の測定、画像のオーバーラップを強化するためのツールが含まれます。HITACHI TM-3030は、集積回路の故障解析、材料科学におけるサンプル特性評価、生体サンプルイメージングなど、幅広い用途に適した優れたツールです。この強力で信頼性の高いSEMは、優れた画像解像度、迅速なサンプル交換、および使いやすいソフトウェア制御を提供します。