中古 HITACHI TM-3030 Plus #9229603 を販売中

HITACHI TM-3030 Plus Scanning Electron Microscope （SEM）は、ナノスケールで高解像度のイメージング機能と正確な測定を提供するために設計された強力なイメージングツールです。詳細な3D画像を作成することができ、材料特性評価、故障解析、研究用途に特化して設計されています。TM-3030 Plusには、ショットキーフィールドエミッション（SFE） FEGソース、タングステン（W） FEGソース、サーマルフィールドエミッション（TFE）ソース、インコラムランタンヘキサボライド（LaB6）ソースの4つの電子源が装備されています。このシステムには、InLens DetectorとBackScattered Electron （BSE） Detectorの両方を同時に動作させるデュアルディテクタシステムがあり、さまざまな高解像度イメージングモードを可能にします。HITACHI TM-3030 PlusにはユーザーフレンドリーなGUIもあり、システムの操作を簡素化します。SEMはまた、高真空条件に長時間耐えるように設計された非常に堅牢な設計を備えているため、ナノ構造やサブミクロン粒子の長時間の特性評価およびイメージングに最適です。また、SEMは信頼性が高く、場の放射電流が少ないため、高分子・原子分解能の画像を得ることができます。さらに、TM-3030 Plusはアンギュラフィルタリングを使用して、分析対象試料への汚染粒子の影響を低減し、より詳細な画像を作成します。また、動作圧力設定や速度の広い範囲で動作するため、様々なクライオイメージングアプリケーションに適しています。また、HITACHI TM-3030 Plusは、画像処理時のサンプル損傷を最小限に抑えるための緩やかなビームアプローチを備えており、脆弱な標本のイメージングが可能です。SEMはまた、高解像度のイメージング機能を提供し、加速電圧のフルレンジで動作します。全体として、TM-3030 Plusは、材料特性評価、故障解析、研究用途向けの強力なAll-in-Oneスキャン電子顕微鏡です。SEMは、高分解能イメージング機能、堅牢な設計、低い電界放出電流を提供し、異なるイメージングモード用に複数の電子源と検出器を備えています。また、クライオイメージングアプリケーションも可能で、画像処理中のサンプル損傷を最小限に抑えるための穏やかなビームアプローチを備えています。