中古 HITACHI TM-3030 Plus #293717781 を販売中

HITACHI TM-3030 Plus Scanning Electron Microscope （SEM）は、強力で汎用性の高いイメージングツールです。薄膜、繊維、半導体デバイス、表面など様々なサンプル基板から高倍率で微細な画像を生成することができます。TM-3030 Plusは、ナノマテリアル、MEMSデバイス、バイオ分析などの詳細な画像処理に必要な最大500xの倍率を備えています。HITACHI TM-3030 Plusは、高解像度SEM画像を生成するために、さまざまな検出方法を使用しています。二次電子（SE）イメージングは、サンプルコーティングを必要とせずに高コントラストの画像形成を可能にします。背面散乱電子（BSE）イメージングは、材料の組成や地形の違いを可視化することができ、また、材料内の粒界や特徴のイメージにも使用されます。SEイメージングは、粒度、結晶度、化学種などの詳細な画像も提供します。さらに、TM-3030 Plusは、スキャンオーガー顕微鏡（SAM）、エネルギー分散分光法（EDS）、電子逆散乱回折（EBSD）マッピングを有効にするように設定できます。SAMを使用すると、元素の分布と濃度を明らかにする化学画像を取得することができますが、EDSを使用すると、粒界に対する元素組成を識別および比較することができ、EBSDは結晶情報のマッピングの手段を提供します。解像度と対照的に、HITACHI TM-3030 Plusは優れたパフォーマンスを提供します。その先進的な光学技術とイメージング技術は、ノイズを最小限に抑えた高解像度の高コントラスト画像を生成します。TM-3030 Plusでは、画像の自動アライメントも提供しており、複数のSEM画像を取得することで、大規模なサンプルエリアの詳細な概要を作成することができます。最後に、HITACHI TM-3030 Plusは操作が簡単で、ユーザーの柔軟性と利便性を最大限に高めるために設計されています。そのモジュラー設計とユーザーフレンドリーなコントローラーは、ユーザーの特定のイメージング要件を満たすようにカスタマイズすることができるソフトウェア制御イメージングモードとイメージングパラメータの範囲を提供します。TM-3030 Plusは、幅広い分野で高感度・高解像度イメージングを必要とする研究者にとって理想的なツールです。