中古 HITACHI SU-8010 #9412309 を販売中

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製造業者
HITACHI
モデル
SU-8010
ID: 9412309
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI SU-8010は、表面や材料の構造を観察するために設計された走査型電子顕微鏡(SEM)です。エネルギー分散分光計(EDS)と高圧エアロックを備えた大型ワークチャンバーを備えています。SEMは電子ビームを利用して0。5 nmまでの解像度で画像を生成し、表面の特徴や微細構造を詳細に調べることができます。HITACHI SU8010は、振動抑制機構を備えた直径21cmの大型ワークチャンバーと、堅牢な高圧エアロックを備えています。エアロックは、汚染のないサンプル移動を可能にし、真空接続を切断して作業室を真空システムから分離することができます。SEMにはサンプルステージがあり、幅広いサンプルサイズや形状に対応できます。SEMにはフィールドエミッションガン(FEG)電子源と二次電子用熱イオン検出器が装備されています。電子電流は1pAから10nAまで調整可能で、幅広いサンプルや条件に対応できます。電子ビームは、広域観察やスポットサイズ低減のために偏向することができます。SU 8010には、表面の化学分析のためのエネルギー分散分光計(EDS)もあります。EDSは、シリコン表面バリア検出器(SSD)を備えており、大きな固体角度を持ち、素材分析を迅速かつ正確に行うことができます。このシステムには、自動ゲイン制御、マルチチャンネルX線ウィンドー、パルスピルアップ除去などの追加機能があり、さまざまな実験ニーズに十分な柔軟性を提供します。SEMには、顕微鏡画像のリアルタイム処理用のイメージプロセッサが搭載されています。プロセッサは画像を組み合わせて形態解析を行うことができ、正確な結論と詳細な再構築を引き出すのに役立ちます。このシステムには、パラレルポート、RS-232、 IEEE1394など、さまざまなインタフェースがあり、さまざまなコンピュータシステムに簡単に接続できます。SU8010は広範囲の適用必要性を満たすように設計されている多目的で、強力な走査の電子顕微鏡です。堅牢な設計と構造を特徴とし、ソリッド表面の高解像度観察に適した優れたイメージングおよび解析機能を提供します。
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