中古 HITACHI SU-70 #293829714 を販売中

HITACHI SU-70は、高解像度のイメージングと元素解析を可能にする強力な走査型電子顕微鏡（SEM）です。この先進的な装置には、研究者、科学者、技術者が優れたディテールと精度で様々なサンプルの微細構造と表面特性を研究することができる最先端の技術と機能が搭載されています。HITACHI SU70の中核となるのは、画像・解析用の集光電子ビームを生成する高性能電子光学系です。SEMは熱電子源を利用して、試料表面をスキャンして高解像度の電子ビームを生成します。電子ビームは試料と相互作用し、二次電子、後方散乱電子、特性X線などの信号を生成し、詳細な画像や定量データを生成します。SU 70には、さまざまな分析ニーズに対応するさまざまな検出器とイメージングモードが装備されています。地形情報のための二次電子イメージング、組成コントラストのための後方散乱電子イメージング、元素同定とマッピングのためのX線マイクロアナリシスを備えています。これらのイメージングおよび解析モードを組み合わせて使用することで、サンプルの微細構造、組成、特性を包括的に評価できます。HITACHI SU 70は、イメージングおよび解析機能に加えて、高度な自動化とユーザーフレンドリーなソフトウェアを提供し、効率的な運用とデータ処理を実現します。この機器は、サンプルナビゲーション、ビームアライメント、およびデータ取得のための自動機能を備え、直感的で使いやすいように設計されています。ソフトウェアインターフェイスを使用すると、インストゥルメントパラメータを制御したり、イメージング設定を調整したり、結果を簡単に分析できます。SU70は、複数の軸の動きを持つ電動ステージを備えており、ユーザーは正確にサンプルを配置し、イメージングと分析のために興味のある特定の領域をターゲットにすることができます。ステージは手動またはソフトウェアインターフェイスを介して制御することができ、ユーザーは広い領域をスキャンし、高解像度の画像を作成し、精度と再現性を備えた要素マッピングを行うことができます。高度な機能とユーザーフレンドリーな設計により、SU-70は幅広い科学および産業アプリケーションにとって貴重なツールです。SEMを用いて、材料の微細構造の研究、表面特性の調査、欠陥や汚染物質の分析、ナノ粒子や薄膜の特徴を、卓越したディテールと精度で解析することができます。エンジニアは、半導体、自動車、航空宇宙、材料科学など、さまざまな業界の品質管理、故障解析、プロセス最適化にSEMを活用できます。結論として、日立SU-70は最先端の走査型電子顕微鏡であり、研究、産業、学界における多様な応用のための高性能なイメージングおよび分析機能を提供します。高度な技術、オートメーション機能、ユーザーフレンドリーなインターフェースにより、ユーザーはこれまでにない明瞭さと精度でマイクロワールドを探索することができ、科学的発見と技術の進歩に不可欠なツールとなっています。