中古 HITACHI SPC-100B #9352395 を販売中

HITACHI SPC-100Bは、様々な研究用途に使用できるように設計された先進的な走査型電子顕微鏡（SEM）です。加速電圧範囲0。5〜75kV、高解像度デジタルイメージングCCDカメラ、高解像度デジタルイメージストレージを搭載しています。HITACHI SPC-100 Bは、最大2,500 ×倍の解像度で超高解像度の画像を作成することができます。このユニットは、X-Yスキャンの最大サイズが250mm、 Zの高さが120mmまでの広い作業スペースを備えています。SPC-100/Bは、スキャン電子ビームの高精度な位置決めとナビゲーションを可能にする革新的な粒子とサンプル移動制御システムを利用しています。HITACHI SPC-100/Bには、二次電子検出器（HVSE）と後方散乱電子検出器（BSE）が搭載されています。これにより、金属や半導体などの難像標本の高分解能イメージングと解析が可能になります。また、超高真空ユニットを搭載し、周囲空気分子によるサンプルの汚染を排除します。この機械は、汚染のない高解像度の画像を作成するために不可欠です。SPC-100Bは、電子ビームのより正確な制御を可能にするユニークなCs補正されたLaB6フィラメントを利用しています。このツールは、画像の歪みを低減し、優れたSEM画像を生成するのに役立ちます。また、イメージング中のエラーの影響を最小限に抑える高度なエラー低減技術も搭載しています。この技術は、幾何学的精度、解像度、および信号対ノイズ比が向上した画像を生成するのに役立ちます。SPC-100 Bは、高度なコンピュータ化された画像解析資産を利用して、研究者がサンプル標本の特性と解剖学を迅速に評価することができます。また、イメージングパラメータや画像処理機能のカスタマイズも可能です。HITACHI SPC-100Bは、精度、分解能、信号対ノイズ比を向上させ、サンプルの高解像度画像を作成するために設計された先進的な走査型電子顕微鏡です。このユニットには、高度なイメージングおよびエラー低減技術、ならびにサンプル移動制御およびイメージング解析システムが装備されています。