中古 HITACHI Scanning Electron Microscope (SEM) #293672028 を販売中

HITACHI Scanning Electron Microscope （SEM）は、非常に高い倍率と比類のないディテールのサンプルを見ることができる強力な分析ツールです。走査型電子顕微鏡（SEM）では、急速に走査する一次電子ビームが表面上をスイープし、様々な二次信号を生成し、分析してサンプルの詳細な画像を作成します。SEMにはタングステンフィラメント電子源が搭載されており、電子ビームは1〜20キロボルトに加速されている。ビームは0。5〜2。0ミクロンのビームサイズに集中しており、非常に高分解能な解析が可能です。ビームとサンプルとの相互作用は、二次電子、後方散乱電子、オーガー電子、X線、およびカソドルミネッセンスを生成します。特別なレンズをビームに適用してステレオ画像を作成することができ、3次元解析に特に役立ちます。SEMには、サンプルをさらに分析するために使用できるいくつかのアクセサリーも付属しています。このようなデバイスの1つは、研究中のサンプルの定性的かつ定量的な元素組成を提供するエネルギー分散X線 （EDX）分光計です。充電結合デバイス（CCD）カメラは、オフライン分析とアーカイブ用の画像を提供します。HITACHI SEMでは、二次および後方散乱イメージング、位相コントラストイメージング、低電圧イメージングなど、多くのイメージング技術を提供しています。これにより、サンプルに関連するさまざまな特性の分析を可能にする、幅広い高度なイメージング機能を提供します。HITACHI SEMの利点は、高解像度イメージング機能、幅広いイメージング技術、自動化されたサンプル作成と解析、広い被写界深度と解像度、最大100万倍のコントラスト、明るさ、色を可能にすることです。日立SEMは、優れたイメージング解像度により、材料研究、金属加工、微細加工、アート保全など、多くの分野で大学、研究機関、産業界で人気が高まっています。これは、サンプルの特徴と特性を調べ、サンプルの構造に関する信じられないほどの詳細を提供するための非常に効果的なツールです。