中古 HITACHI S-9380 Type II #9314795 を販売中
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ID: 9314795
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2004
Critical Dimension Scanning Electron Microscopes (CD-SEM), 12"
2004 vintage.
HITACHI S-9380 Type IIは、最先端のイメージング技術を駆使し、最大10万倍の倍率でサンプルを撮影・分析する走査型電子顕微鏡です。熱電場放出電子銃を活用して、1。2nm未満のスポットサイズと最大30kVの加速電圧を持つ非常に集中した電子ビームを生成します。フィールド偏向コイルと特殊レンズを使用することで、電子ビームを試料表面をスキャンしたり、特定の領域に交互に焦点を合わせることができます。電子ビームが偏向すると、電磁検出器は信号を記録して画像を作成します。結果の画像はビデオモニターに投影され、さらに詳細な分析のためにデジタルレコーダーまたはコンピュータに転送することもできます。S-9380 Type IIは、サンプルの明るさとコントラストを調整して最適な結果を得る自動明るさ制御機能も備えています。さらに、標準STMやSEM、高解像度SEM、低電圧SEM、分析イメージング、分光など、さまざまなイメージングモードを提供しています。この装置は、走査型電子顕微鏡技術と分析分光とイメージングの力を組み合わせることで、単一分子から集積回路全体まで、あらゆる種類のナノ構造の完全な特性評価を提供することができます。HITACHI S-9380 Type IIは、アプリケーション固有のアクセサリーやオプションを幅広く取り揃えており、その範囲と機能をさらに広げています。3軸ステージ、ピンチアンドチルトステージ、Ar-ion gunなどの特殊なサンプルステージと治具により、さまざまなサイズ、形状、分散のサンプルを探索および観察することができます。また、加熱ステージ、低温冷却ステージ、角度アプローチにより、温度に敏感なサンプルの高解像度画像を得ることができます。さらに、S-9380 Type IIは、多機能データ処理ソフトウェアと統合することができ、ユーザーは、詳細情報を抽出して分析する画像を分析し、処理することができます。このソフトウェアを使用すると、画像を分析し、線の特徴や角度、画質やコントラスト、粒子のサイズや形状などの重要なパラメータを測定することができます。最後に、機器はまた、最小限の経験豊富なユーザーでも高品質のデータ取得を保証する自動スキャンモードを提供します。
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