中古 HITACHI S-9380 Type II #9276374 を販売中

HITACHI S-9380 Type II
ID: 9276374
ウェーハサイズ: 12"
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 12" VID: VID753 Resolution: 2nm Throughput: 33 Wafer/h MAM Time: 4.0 Sec Stage landing accuracy: ±1μm.
HITACHI S-9380 Type IIスキャン電子顕微鏡(SEM)は、様々な倍率でサンプルや基板を検査するための高度な分析ツールです。これは、長さ、幅、深さ、変位、向きからなる5次元解像度でスキャンされたオブジェクトの詳細な画像を生成する機能のための技術および研究コミュニティの間で人気があります。この装置には、最大0。30 kV〜15 kVの加速電圧を持つスキャン電子カラムと、スキャンモードで最大10 Aの電流を備えています。この強力で汎用性の高いシステムにより、ユーザーは最大500,000X倍の効果的な倍率でサンプルの詳細な画像を生成することができます。さらに、デバイスのアライメントシステムは、スキャン領域を正確に制御し、ユーザーが最も正確な画像と分析を得ることができます。SEMには、広角光学視野のインコラム二次電子検出器、高視野・高視野レンズ、大型開口レンズが搭載されており、透明度、鮮明度、透明度の高い画像をキャプチャすることができます。デジタルイメージング機能により、S-9380 Type II SEMは最大解像度1。25 nmの画像を生成し、最大5次元の解像度で画像をキャプチャできます。さらに、オンボードX -EDSシステムを使用すると、真空ハウジングチャンバーの助けを借りてエネルギー分散X線分光解析を行うことができます。この機能により、サンプル中に存在する元素の化学組成と微分濃度をすばやく分析することができます。また、HITACHI S-9380 Type IIには、非導電性サンプルを自然環境で観察できる低真空機能も搭載しています。Type IIデバイスS-9380機能に加えて、画像処理ツールを備えたユーザーフレンドリーなインターフェイスを備えており、ユーザーは画像を効果的に操作できます。これにより、材料科学、半導体、冶金学、地質学、およびさまざまな物理科学研究に至るまで、さまざまな用途に適しています。HITACHI S-9380 Type IIスキャン電子顕微鏡は、徹底的で詳細なイメージングと分光解析を行うための強力で汎用性の高いツールです。ユーザーフレンドリーなインターフェイスと高度な技術により、さまざまな研究および技術アプリケーションに最適です。
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