中古 HITACHI S-9380 II #9241975 を販売中

HITACHI S-9380 II
製造業者
HITACHI
モデル
S-9380 II
ID: 9241975
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2006
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD SEM), 12" 2006 vintage.
HITACHI S-9380 IIは、様々な材料の表面特徴の観察、イメージング、解析に使用される走査型電子顕微鏡(SEM)です。最大200kVの加速電圧を備えた顕微鏡は、高解像度のイメージングを提供し、最大5nmの解像度で画像を作成できます。HITACHI S9380 IIは、高真空、可変圧(LVP)、低真空(LV)の機能を含む可変圧力タイプのSEMです。可変圧力SEM動作により、LVモードおよびLVPモードでの独自の放電制御により、非導電性サンプルのイメージングが改善され、試料表面特性評価の分析機能も強化されます。S-9380-IIには、専用のテレビカメラ、仮想STEM拡大レンズ、マルチスポットおよびマルチコラム機能が備わっています。テレビカメラは、ユーザーの要件に対応するための3つのカメラの選択肢を提供しています。最大2つの目的を同時に操作することで、高速な画像取得が可能です。複数の倍率を持つ仮想STEM拡大レンズは、さまざまな倍率で幅広いサンプル観察を提供します。任意の倍率設定の複数のスポットが利用可能であり、トモグラフィー解析または大面積の調査を利用可能にするのに役立ちます。さらに、複数のスキャン範囲を組み合わせたマルチカラムシステムは、効率的な観察のために、複数の角度方向の画像を取得することができます。S9380 IIには、エネルギー分散X線分析(EDX)やカソドルミネッセンス解析などの様々な分析機能が含まれています。元素組成解析に使用されるEDXは、高真空モードと低真空モードの両方で使用できます。また、PASENDIを搭載しています-化学イメージングシステムは、サンプル内の特定の要素の2D分布を可能にします。カソドルミネッセンス(CL)解析は、高エネルギー電子ビームによって励起されるサンプルからの光学放射の分析に役立ちます。HITACHI S 9380 IIは、EDSやCLの他に、電子後方散乱回折(EBSD)やシングルビームおよびダブルビーム解析も可能です。標準構成では、S-9380 IIはEDAX SIMS 180C、高度な電子イメージング装置、および二次および後方散乱電子検出器の選択を搭載しています。サンプルの取り付けと分析を容易にするために、幅広い最適化されたアクセサリが付属しています。要するに、日立S-9380-IIは、材料研究、ナノテクノロジー、オプトエレクトロニクス、ライフサイエンス分野の様々な用途に最適な高性能、信頼性、費用対効果の高い走査型電子顕微鏡を提供します。
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