中古 HITACHI S-9380 II #293761864 を販売中

HITACHI S-9380 IIは、ナノメートルスケールの範囲内で高解像度のイメージングと解析が可能な走査型電子顕微鏡（SEM）です。半導体薄膜層評価、材料特性評価、3次元トポグラフィー、メタログラフィーなど、さまざまな用途に対応できるように設計されています。SEMには新型の電子銃SuperBrightEBeamが搭載されており、画像の収差と歪みを大幅に低減します。この装置は、安定性を最大化し、一貫した動作を確保するために、コールドカソード電界放出タイプの電子源を利用しています。電子ビームはSTEM（走査伝達電子顕微鏡）レベルに敏感であり、高分解能のイメージングを提供します。SEMは一般的な高分解能または低電圧モードで動作できます。高解像度モードは、二次電子（SE）、逆散乱電子（BE）などを解像度とゼロロスイメージングを向上させるエネルギーフィルタイメージングを利用しています。低電圧モードは、表面素子や有機材料のイメージングに適しています。カラー3D-SE-BEイメージシナジーも紹介されています。トランスミッションモードイメージングには、広いスペクトル光でサンプルを照らすプローブ照明システムを搭載し、画像のノイズを低減します。このユニットは、SE、 BE、 EDXなどの検出器とも互換性があり、元素解析を実行します。SEMには、試料サイズ2。5mm ~ 10。0mm （H） x 6。0mm ~ 10。0mm （D）の試料チャンバーが装備されています。試料チャンバーは、試料の傾きと回転を行うように設計されており、真空機能とガスマシンを使用して安全な動作を提供します。ユーザーフレンドリーなインターフェイスは操作を簡単にし、すべての設定を迅速に調整できます。主要な位相解析、マイナー位相解析、画像復元、TEM回折パターンなどの高度な解析機能が特長で、可能な限り幅広い分析を提供します。HITACHI S9380 II Scanning Electron Microscopeは、ナノメートルスケールの高精度イメージングと解析を必要とする研究者にとって、有効で汎用性の高いツールです。