中古 HITACHI S-9308 II #9258100 を販売中

HITACHI S-9308 II走査型電子顕微鏡（SEM）は、超高性能イメージング装置と高度な微細分析機能を組み合わせた業界トップクラスの顕微鏡です。このシステムは、大規模なサンプルチャンバーとエポキシコーティングされたアルミニウムステージを備えています。ナノスケールでの材料分析に最適です。S-9308 IIのイメージングユニットは、一連の明るい高コントラスト画像を生成する低真空の場の放出電子源（FES）に基づいています。それは市場で利用可能な最も敏感なFESです。この技術により、ユーザーは比類のない鮮明さと画質を達成することができます。HITACHI S-9308 IIは、高度な微分分析機能も備えています。これには、X線蛍光（XRF）やX線光電子分光（XPS）などのエネルギー分散X線分光法（EDS）解析ツールが含まれています。貴金属からポリマー、セラミックスまで、さまざまな材料を分子レベルで分析することができます。その高度な機能に加えて、S-9308 IIは、最先端のユーザーフレンドリーな機能の範囲を持っています。自動フォーカス機能とスティグマ機能が搭載されているため、高品質の画像を取得し、効率的にサンプルステージを移動することができます。HITACHI S-9308 IIの静電ビームディフレクションツールは高速スキャン画像を提供し、高性能なドウェル時間は最適なX線スペクトラコレクションを保証します。このアセットは、さまざまなサンプルサイズ、形状、および要件に対応するさまざまなオプションを備えた、非常に汎用性の高いものです。透過電子顕微鏡（TEM）または走査電子顕微鏡（SEM）イメージング技術のいずれかで使用できます。最適なパフォーマンスを確保するために、S-9308 IIには強力なソフトウェアが付属しています。強力な画像解析ツールだけでなく、倍率、ステージ移動、スキャンモード、および標本選択などの側面を制御するための自動設定が含まれています。全体として、HITACHI S-9308 IIスキャン電子顕微鏡は、優れたイメージング品質と優れたマイクロアナリシス機能を提供する汎用性が高く、パワフルで使いやすいモデルです。ナノスコピックレベルで材料を分析する必要があるユーザーに最適です。