中古 HITACHI S-9300 #293592591 を販売中

HITACHI S-9300
製造業者
HITACHI
モデル
S-9300
ID: 293592591
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
HITACHI S-9300は、高解像度イメージングと低オペレーティングコストを組み合わせた走査型電子顕微鏡(SEM)です。故障解析、腐食試験、材料特性評価、半導体デバイス試験など、さまざまな用途で高品質な画像を生成することができます。HITACHI S9300には、従来のSEMよりも多くの利点を提供する新しい合金光学カラムがあります。これには、高分解能、優れたビーム安定性、超広い作動距離、および小さなビーム収束角が含まれます。優れた光学系は、優れた透明度と精度の画像を生成し、広い作動距離は、より大きなサンプルをスキャンし、より大きな視野を得ることができます。S 9300には、SEM対物レンズとデジタルカメラの間で一定の動作を維持するデジタル光学システムも新たに設計されています。これにより、見かけの被写界深度(ADF)や総倍率(TM)値など、サンプルのパラメータを迅速かつ正確に決定できます。また、立体イメージング機能により、浮き上がった形状または不規則な形状のサンプルの画像をキャプチャする際にも大きな柔軟性が得られます。S-9300には真空チャンバーがあり、5x10-7 Pa (0。5 torr)の真空を生成することができます。これは、腐食の高解像度研究や高価な材料の同定などの状況で高精度のイメージングに役立ちます。このチャンバーはまた、高度な不活性大気制御を達成することができ、腐食研究や電子断層撮影用の吊り下げアニメーション下の生きた標本のイメージングに最適です。HITACHI S 9300は、サンプルサイズSに4x4mm、 サンプルサイズMに2。5 x 2。5mmの広い高解像度画像視野(FOV)を有しています。また、フレキシブルな手動スキャンコントロールと、サンプルを観察しながら正確な動きを可能にするジョイスティックを内蔵しています。S9300は、優れたイメージング性能と柔軟性を提供する信頼性の高いユーザーフレンドリーなSEMです。高解像度およびデジタルフォトオプティクスにより、故障解析、腐食試験、材料特性評価、SEMデバイス試験など、さまざまなアプリケーションに最適です。その真空チャンバーと不活性な大気制御機能は、高度なイメージング研究のさらなる可能性を提供します。競合するSEMと比較して運用コストが低いことも魅力的であり、多くの研究所にとって実行可能な選択肢となっています。
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