中古 HITACHI S-9280 #9200123 を販売中

HITACHI S-9280 Scanning Electron Microscope （SEM）は、ナノおよびマイクロスケールの材料の詳細な研究を可能にする強力な分析ツールです。高度な電子光学と自動化された機能により、比類のないレベルの解像度で優れたイメージング、検出、測定機能を提供します。S-9280 SEMは、走査型電子ビームを利用して、分析試料の結晶構造の詳細な3D画像を取得します。カウンターバイアスイメージング技術を搭載し、電子ビームがサンプルを通過すると同時に、-500Vと-5kVの負のバイアスを提供します。これにより、従来のSEMシステムとのコントラストを改善した高解像度画像の取得が可能になります。HITACHI S-9280には、エネルギーアナライザとして機能するマルチモード検出器が装備されており、サンプルと電子ビームの電流相互作用の異なる特性に基づいて画像を生成します。これにより、金属、半導体、ポリマー、セラミックスなど、幅広い材料を分析することができます。S-9280は、エネルギー分散分光法（EDS）を用いた高感度の元素組成解析を提供します。調節可能なサンプルアームにEDSユニットを搭載し、最適な性能を発揮します。このシステムを通じて、ユーザーは検出限界が10ppm以下のサンプルの元素組成物を迅速かつ正確に特徴付けることができます。HITACHI S-9280の低真空テーブルは、最適なスキャン機能を備えており、従来モードと低真空モードのどちらでも動作可能です。二次電子検出器により、低真空モードを利用して、より高いコントラストと解像度の画像を取得できます。選択した領域の構造を解析するために、S-9280は幅広いイメージングおよび測定機能を提供します。自動化されたインターフェイスを通じて、ユーザーは数秒でサンプルの厚さ、表面積の地形、結晶構造、粒度などを測定できます。また、オプションのインカラム光学部品を使用して光画像を取得することもできます。HITACHI S-9280の高度な制御ソフトウェアは、操作を容易にし、ユーザーが迅速にデータをキャプチャし、分析し、保存することができます。また、機器のリモートコントロールを可能にし、リモートアクセスとデータ共有を可能にします。要するに、S-9280 Scanning Electron Microscopeは、サンプルの構造を正確かつ迅速に分析できる強力なイメージングツールです。その自動化された機能は、異なる材料の特性評価を大幅に簡素化および高速化し、ナノおよびマイクロスケールの研究分野において非常に貴重なツールとなっています。