中古 HITACHI S-9220 #9261868 を販売中

HITACHI S-9220は、高倍率イメージングおよびミクロンサイズの特徴解析用に特別に設計された、高解像度のコールドフィールド放射走査型電子顕微鏡（FE-SEM）です。この顕微鏡は、最大150000X倍の倍率で動作することができ、解像度は1。5nmまでです。HITACHI S9220は、低消費電力のコールドフィールド放出電子源（CFES）を用いて電子ビームの安定性を最適化し、高スループットのサンプル操作を可能にします。CFESはまた、顕微鏡の解像度を高めるのに役立ち、イメージングとサンプルの詳細な分析を改善することができます。フィールド放出電子源は、低真空条件でのイメージングにEver-Ready Beam （ERB）を使用することも可能です。これにより、吸着分子または蒸発分子を用いたサンプルのイメージングおよびスループット性能が向上します。S 9220には、後方散乱電子（BSE）、二次電子（SE）、 X線検出器など、さまざまな検出器も装備されています。BSE検出器はサンプルの地形に関する情報を得るために使用でき、SE検出器は元素分析や表面テクスチャの観察に使用できます。このX線検出器は、エネルギー分散型X線分光法（EDX）と波長分散型X線分光法（WDX）の両方の情報を取得することができます。HITACHI S 9220 SEMは、さまざまな低温イオンビーム（FIB）システムを使用した自動試料調製が可能です。これには、自動試料アライメントとサンプルロード、自動シーケンシャルイメージング、サンプルグレインサイズ分布データ取得が含まれます。これにより、手動サンプルの読み込みが不要になり、スループットが大幅に向上します。最後S9220、 SEMには大きな4ベイ自動サンプル交換器があります。これにより、複数のサンプルを自動化し、自動ロードとアンロードが可能になり、さまざまなサンプルに素早くアクセスできます。この機能により、イメージングと解析のスループットが大幅に向上します。全体として、S-9220は高解像度イメージングおよびミクロンサイズのフィーチャー解析用の高度で完全に自動化されたFE-SEMです。高倍率、最先端のCFES、自動化された試料調製システムを組み合わせることで、非常に複雑なサンプルのイメージングと定量分析の両方に理想的な選択肢となります。