中古 HITACHI S-9220 #9212951 を販売中

製造業者
HITACHI
モデル
S-9220
ID: 9212951
Critical dimension scanning electron microscope (CD-SEM) Upgraded from S-9200.
HITACHI S-9220は、焦点電子ビームを利用した走査型電子顕微鏡(SEM)で、最大100,000X倍の倍率で標本表面の画像を形成します。この装置は、イメージング、マイクロアナリシス、および3D断層撮影を行うことができます。ハイスループットモード、自動化されたイメージステッチ、調整可能な加速電圧、調整可能なフォーカス安定化設定など、さまざまな高度な機能を使用してユーザーエクスペリエンスを向上させます。この光学カラムは、調整可能な傾斜角度を備えた大きなソースからサンプルまでの距離を利用して、イメージングセットアップの柔軟性を最大限に高めています。高エネルギー電子ビームは、水平方向の高真空電子銃によって生成されます。明るさと電子ビームスポットサイズを調整して、イメージング性能を最適化できます。対物レンズ集光システムは、歪みを最小限に抑えた優れた解像度のイメージングを提供するように設計されています。対物レンズには、デジタルおよびアナログのポストビーム検出器を含む多種多様な検出システムが搭載されています。主なイメージング機能には、シングルショットおよび複数ショットイメージングがあります。デジタルイメージをイメージングシステムから直接キャプチャすることができ、フォーカス機能が強化されているため、解像度と明瞭度がさらに向上します。可変倍率とスキャンエリアサイズは、さまざまなサンプルサイズと機能解像度に対応できます。3D断層撮影は、さまざまなイメージング手順を使用しても可能です。HITACHI S9220 SEMは、イメージングに加え、微量の化学物質や元素を検出できるように設計されています。分析機能には、エネルギー分散分光法(EDS)、 X線蛍光法(XRF)、電子逆散乱回折(EBSD)などがあります。S 9220 SEMは、さまざまなユーザーフレンドリーな機能を備えており、材料やデバイスの研究に携わる人々にとって、汎用性と強力なツールとなっています。フォーカス安定化などの自動化された機能により、操作中のユーザー入力の必要性が低減されます。また、ワークフローとデータ処理を合理化するEDX Studioなどのさまざまなソフトウェアパッケージも備えています。精密イメージング、強力なマイクロアナリシス、およびユーザーフレンドリーなアプリケーションの組み合わせにより、S9220 SEMは高度なイメージングと分析性能を必要とする人に最適です。
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