中古 HITACHI S-9220 #9200635 を販売中
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販売された
ID: 9200635
CD Scanning electron microscope, 8"
System information:
Work station
Model: B180L
O/S: HP Unix
General specifications:
SEMI/JEIDA standard orientation
Flat or V notch wafers
Measurement method: Cursor / Line profile
Measurement range: 0.1µm ~ 2.0 µm
Measurement repeatability: ±1% / 3 nm (3 sigma) whichever larger
Throughput: 56 Wafers/hr
Measured points: 1 Point/chip, 5 Chips/wafer
Secondary electron image resolution: 3nm
Image magnification: 500 ~ 300kx
Electron optics system:
Electron gun: Schottky emission
Accelerating voltage: 500 ~ 1,600 V
Lens system:
Scintillator/photomultiplier detection system
ExB Filter
SE / BSE Electrons
Objective lens aperture: Heating type movable aperture
Fine adjustment possible
Scanning coil: 2 stage electromagnetic deflection
Stigmator coil: 8-pole electromagnetic type (X, Y axes)
Probe current monitoring: Faraday cup incorporated, with automatic measurement
Optical microscope: 1.2-mm-square visual field, monochrome image
Stage:
Movement range: X, Y: 0 ~ 200mm
Driving method: Pulse motor
Control/speed:
Positioning contro
Linear encoder
Maximum speed: 100mm/s
Loader:
Wafer transfer:
Cassette to loader chamber: Auto transfer via wafer transfer robot
Loader chamber to stage: Auto evacuation and auto loading
Wafer transfer robot system:
Random access using two cassettes
Wafer detection in cassette: Automatic detection via wafer searcher
Chucking method: Vacuum chucking on back of wafer
Orientation flat / V notch detection: Non-contact auto detection via optical sensor
Control and display system:
CRT:
EWS 21 Type monitor display of SEM and OM images
GUI Operation screen
Wafer map
Measured values
Stage coordinates
Scanning modes:
TV Scan
HR Scan
Slow scan
With auto brightness/contrast function
Image Processing:
Hardware processing using DSP (Option)
Recording:
Video printer output function (Option)
Image filing function (Option)
Safety device: Equipped with emergency off swith
CD Measurement data processing system:
File storage: Storage function for various setting parameters, measurement results
Storage media:
Hard disk (9.1GB) incorporated in EWS
3.5 Type magneto-optic disk
3.5" Floppy disk
Data process function:
Statistics output
Worksheet system
Output of measured values in real time graph
Printout: 80 Character thermal printer
Evacuation system:
Full automatic
Dry / Clean evacuation
Vacuum pumps :
(3) Ion pumps
(2) Turbo molecular pumps
(2) Oil rotary pumps
Safety devices:
Protective device against:
Power failure
Column vacuum level drop
Dry air pressure drop
Cooling water flow rate drop
Grounding: 1000 or less (Single)
Nitrogen:
200 ~ 680kPa
Pipe outer diameter: 6mm
Vacuum:
P: 1.3 ~ 21.3 kPa or less
Pipe outer diameter: 6mm
Circulation cooling water:
98.1 ~ 196kPa
Pipe outer diameter: 15mm
Environmental conditions:
Magnetic field:
AC magnetic field: 0.3µT or less
DC magnetic field: 0.1µT or less
Vibration:
Horizontal direction:
1Hz: 3µm (P-P) Max
2Hz: 0.7µm (P-P) Max
3Hz: 1.2µm (P-P) Max
4Hz: 2µm (P-P) Max
5Hz: 3µm (P-P) Max
10Hz: 3.5µm (P-P) Max
Noise: Less than 75 dB
Room temperature: 20 ~ 25°C (Δt = ±2°C)
Humidity: 60% or less
Utility:
Power:
100 V, 200 V, 208 V, 230 VAC
6 kVA
50/60 Hz
1 Phase
2001 vintage.
日立S-9220は最先端の走査型電子顕微鏡(SEM)です。この電子プローブ顕微鏡は、サブナノメートルの解像度まで構造を解析するための汎用性の高いプラットフォームです。1〜2ナノメートルの範囲で優れた画素分解能を提供し、検査対象のサンプルの長さと幅にわたって画質と解像度を最適化します。HITACHI S9220の高倍率を最大1,000,000倍にすることで、ナノスケール天体の細部まで精密に検査することができます。従来のSEMには真空チャンバーが必要で、S 9220も例外ではありません。しかし、それは優れた性能を提供しながら、高い信頼性を保証する大規模な市販の乾燥真空装置を使用しています。この真空システムは、イオン、空気分子、およびその他の粒子が画像に存在する可能性のあるアーティファクトの影響を制限します。Ultra Low Vacuum (ULV)ユニットを使用することで、チャンバー内の圧力をより長い時間一定に保ち、サンプルからより多くの情報を収集し、より良い画質を作り出すことができます。HITACHI S 9220には、高エネルギーレベルで電子を放出する電界放射銃、それらの電子を試料に集中させるためのコンデンサーレンズ、信号を収集するための検出器、画像を処理するための画像検出器などを搭載したイメージングマシンが搭載されています。このイメージングツールは、精密レンズと、試料を容易に貫通して原子構造をマッピングできる高エネルギー電子により、優れた性能を提供します。S-9220のサンプルステージは、4軸(x、 y、 z、回転)の周りに標本を移動させて、イメージングする必要のある必要な領域を正確に操作することができます。試料ホルダーは、大型および重い試料から繊細で小さな試料まで、試料の範囲を可能にします。また、サンプルステージには、冷却中にサンプルを含有し、その化学組成を分析するための温度制御ユニットも備えています。S9220には、サンプルを分析するための2つの測定ツールも組み込まれています。最初のツールは、エネルギー分散型X線スペクトル(EDS)検出器です。このユニットにより、試料の化学組成を非常に高い精度で決定することができます。もう1つのツールは、X線回折ツール(XRD)です。このゲージにより、様々な角度や向きから材料の結晶構造を決定することができます。HITACHI S-9220は、ナノスケール天体の詳細な解析に最適な走査型電子顕微鏡です。商業用乾燥真空資産の大型、高エネルギー電子イメージングモデル、および複数の段階とツールにより、このSEMの信頼性と精度が向上し、研究者は高精度で高解像度の画像を容易に取得できます。
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