中古 HITACHI S-9220 #9200635 を販売中

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製造業者
HITACHI
モデル
S-9220
ID: 9200635
CD Scanning electron microscope, 8" System information: Work station Model: B180L O/S: HP Unix General specifications: SEMI/JEIDA standard orientation Flat or V notch wafers Measurement method: Cursor / Line profile Measurement range: 0.1µm ~ 2.0 µm Measurement repeatability: ±1% / 3 nm (3 sigma) whichever larger Throughput: 56 Wafers/hr Measured points: 1 Point/chip, 5 Chips/wafer Secondary electron image resolution: 3nm Image magnification: 500 ~ 300kx Electron optics system: Electron gun: Schottky emission Accelerating voltage: 500 ~ 1,600 V Lens system: Scintillator/photomultiplier detection system ExB Filter SE / BSE Electrons Objective lens aperture: Heating type movable aperture Fine adjustment possible Scanning coil: 2 stage electromagnetic deflection Stigmator coil: 8-pole electromagnetic type (X, Y axes) Probe current monitoring: Faraday cup incorporated, with automatic measurement Optical microscope: 1.2-mm-square visual field, monochrome image Stage: Movement range: X, Y: 0 ~ 200mm Driving method: Pulse motor Control/speed: Positioning contro Linear encoder Maximum speed: 100mm/s Loader: Wafer transfer: Cassette to loader chamber: Auto transfer via wafer transfer robot Loader chamber to stage: Auto evacuation and auto loading Wafer transfer robot system: Random access using two cassettes Wafer detection in cassette: Automatic detection via wafer searcher Chucking method: Vacuum chucking on back of wafer Orientation flat / V notch detection: Non-contact auto detection via optical sensor Control and display system: CRT: EWS 21 Type monitor display of SEM and OM images GUI Operation screen Wafer map Measured values Stage coordinates Scanning modes: TV Scan HR Scan Slow scan With auto brightness/contrast function Image Processing: Hardware processing using DSP (Option) Recording: Video printer output function (Option) Image filing function (Option) Safety device: Equipped with emergency off swith CD Measurement data processing system: File storage: Storage function for various setting parameters, measurement results Storage media: Hard disk (9.1GB) incorporated in EWS 3.5 Type magneto-optic disk 3.5" Floppy disk Data process function: Statistics output Worksheet system Output of measured values in real time graph Printout: 80 Character thermal printer Evacuation system: Full automatic Dry / Clean evacuation Vacuum pumps : (3) Ion pumps (2) Turbo molecular pumps (2) Oil rotary pumps Safety devices: Protective device against: Power failure Column vacuum level drop Dry air pressure drop Cooling water flow rate drop Grounding: 1000 or less (Single) Nitrogen: 200 ~ 680kPa Pipe outer diameter: 6mm Vacuum: P: 1.3 ~ 21.3 kPa or less Pipe outer diameter: 6mm Circulation cooling water: 98.1 ~ 196kPa Pipe outer diameter: 15mm Environmental conditions: Magnetic field: AC magnetic field: 0.3µT or less DC magnetic field: 0.1µT or less Vibration: Horizontal direction: 1Hz: 3µm (P-P) Max 2Hz: 0.7µm (P-P) Max 3Hz: 1.2µm (P-P) Max 4Hz: 2µm (P-P) Max 5Hz: 3µm (P-P) Max 10Hz: 3.5µm (P-P) Max Noise: Less than 75 dB Room temperature: 20 ~ 25°C (Δt = ±2°C) Humidity: 60% or less Utility: Power: 100 V, 200 V, 208 V, 230 VAC 6 kVA 50/60 Hz 1 Phase 2001 vintage.
日立S-9220は最先端の走査型電子顕微鏡(SEM)です。この電子プローブ顕微鏡は、サブナノメートルの解像度まで構造を解析するための汎用性の高いプラットフォームです。1〜2ナノメートルの範囲で優れた画素分解能を提供し、検査対象のサンプルの長さと幅にわたって画質と解像度を最適化します。HITACHI S9220の高倍率を最大1,000,000倍にすることで、ナノスケール天体の細部まで精密に検査することができます。従来のSEMには真空チャンバーが必要で、S 9220も例外ではありません。しかし、それは優れた性能を提供しながら、高い信頼性を保証する大規模な市販の乾燥真空装置を使用しています。この真空システムは、イオン、空気分子、およびその他の粒子が画像に存在する可能性のあるアーティファクトの影響を制限します。Ultra Low Vacuum (ULV)ユニットを使用することで、チャンバー内の圧力をより長い時間一定に保ち、サンプルからより多くの情報を収集し、より良い画質を作り出すことができます。HITACHI S 9220には、高エネルギーレベルで電子を放出する電界放射銃、それらの電子を試料に集中させるためのコンデンサーレンズ、信号を収集するための検出器、画像を処理するための画像検出器などを搭載したイメージングマシンが搭載されています。このイメージングツールは、精密レンズと、試料を容易に貫通して原子構造をマッピングできる高エネルギー電子により、優れた性能を提供します。S-9220のサンプルステージは、4軸(x、 y、 z、回転)の周りに標本を移動させて、イメージングする必要のある必要な領域を正確に操作することができます。試料ホルダーは、大型および重い試料から繊細で小さな試料まで、試料の範囲を可能にします。また、サンプルステージには、冷却中にサンプルを含有し、その化学組成を分析するための温度制御ユニットも備えています。S9220には、サンプルを分析するための2つの測定ツールも組み込まれています。最初のツールは、エネルギー分散型X線スペクトル(EDS)検出器です。このユニットにより、試料の化学組成を非常に高い精度で決定することができます。もう1つのツールは、X線回折ツール(XRD)です。このゲージにより、様々な角度や向きから材料の結晶構造を決定することができます。HITACHI S-9220は、ナノスケール天体の詳細な解析に最適な走査型電子顕微鏡です。商業用乾燥真空資産の大型、高エネルギー電子イメージングモデル、および複数の段階とツールにより、このSEMの信頼性と精度が向上し、研究者は高精度で高解像度の画像を容易に取得できます。
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