中古 HITACHI S-8840 #9077721 を販売中

HITACHI S-8840は、高精度で動作する走査型電子顕微鏡（SEM）装置で、幅広い用途に対応しています。試料の表面構造を検査し、ナノメートルサイズの特徴を高い精度で測定し、材料の電気的・化学的特性を評価するのに有益です。HITACHI S8840は、高性能と高品質のイメージングと分析機能を提供します。高真空ユニットを内蔵し、高真空運転が可能な先進システムです。これにより、高解像度のイメージングと分析性能の向上が可能になります。さらに、低真空モードと中真空モードにより、表面および非導電材料の非破壊画像を作成できます。S 8840には、二次および後方散乱電子検出器、高性能エネルギー分散X線検出器（EDX）、高感度ファラデーカップなど、いくつかのタイプの検出器が組み込まれています。これらの検出器を組み合わせて、さまざまな電子およびX線信号を検出することができます。EDX検出器は特に強力であり、原子分解能での標本の元素分析を可能にします。高性能ファラデーカップは、試験片の充電を最小限に抑えながら、弱い二次および後方散乱電子信号を正確に分析することができます。また、HITACHI S 8840は高解像度の電界放射銃（FEG）を搭載しており、高解像度イメージングを実現しています。FEGは、高品質のサブナノメートルイメージングと高速スキャンイメージングを可能にします。さらに、S-8840は、in-situマイクロマニピュレーション、in-situ化学分析、リアルタイム3D-reconstructionなどの高度なアプリケーションに最適です。In-situマイクロマニピュレーションにより、試料とその後の分析を正確に制御できます。In-situ化学分析では、試料をSEMチャンバー内で直接化学分析することができ、試料をin-situ内に配置することで、別の分析チャンバーに移動する必要がなくなります。リアルタイム3D-reconstructionにより、試料表面の画像を回転させて記録することで、高精度な3D画像を作成します。最後に、S8840は自動的に検出器の利得を調整する革新的なオートシェーディング補正機能を備えており、均一でないサーフェスの画質向上を可能にします。要するに、HITACHI S-8840は、幅広い機能と機能を備えた高度な走査型電子顕微鏡マシンです。これは、統合された真空ツールとさまざまな検出器のおかげで、優れたイメージング品質と元素分析機能を提供します。高度な機能により、高精度の表面測定と特性評価に最適なソリューションです。