中古 HITACHI S-8840 #293754943 を販売中

HITACHI S-8840は、表面解析、材料科学、ナノテクノロジー分野における高性能イメージング機能を提供する走査型電子顕微鏡（SEM）です。HITACHI S8840は、大面積の高解像度イメージング用の低解像度から、サブミクロンスケールの観測用の超高解像度まで、さまざまな用途に幅広い解像度を提供しています。S 8840は最大50nAの高一次電子ビーム電流を有し、鮮明な画像に対して高い信号対ノイズ比を提供します。また、最大80000X倍の拡大を可能にする高度なフォーカシングシステムも含まれています。FEオプションのFEG（フィールドエミッションガン）を使用すると、0。5 nmまでの高解像度を提供できます。これは、半導体やMEMSデバイスのナノ構造の観察に特に役立ちます。イメージングモードに関しS8840は、二次電子モードと後方散乱電子イメージングモードの両方で動作することができます。二次電子イメージング（SEI）は表面トポグラフィなどのバルク情報を得るために使用され、逆散乱電子イメージング（BSEI）はサンプルのバルク組成を明らかにするために使用されます。また、サンプルの表面電位と電界を明らかにすることができる静電マッピングも含まれています。さらに、高解像度元素解析用のエネルギーフィルタリングイメージング（EFI）、ナノ構造イメージング用のスキャン伝送電子顕微鏡（STEM）、局所元素分布用のオーガー電子イメージング（AEM）、および非破壊性X線構造イメージング（XRI）などの高度なイメージングオプションをS-8840提供しています。HITACHI S 8840は、データ解析・操作機能として、3D画像再構築、画像セグメンテーション、特徴抽出アルゴリズム、3Dオブジェクトの測定・解析をサポートする統合画像処理ユニットを搭載しています。このマシンには強力なスクリプト機能とオートメーション機能があり、ルーチンタスクを効率的に効率化することができます。HITACHI S-8840は、多様なアプリケーションのニーズに応える幅広い解像度とイメージングオプションを提供する高度な走査型電子顕微鏡です。高度なフォーカシングシステムと統合された画像処理ユニットは、高性能を要求する複雑なイメージングおよびデータ分析プロジェクトに最適です。