中古 HITACHI S-8840 #139927 を販売中

製造業者
HITACHI
モデル
S-8840
ID: 139927
ウェーハサイズ: 3"-8"
CD SEM, 8" Upgraded to 3" to 8" wafer capability CD measuring size: 130-160nm, consistently Version 11.7 S/W or newer SECS/GEM Communication Interface Additional hard disk drive (>1GB) VRT board w/ 8 mb of memory DSP compatible conductive wafer holder Hitachi Hi Tech Electron Gun Accelerating voltage, 500V to 1300V, 10V steps Probe current, 1-16pA at 800V, 1-10pA at 1000V, 1-13pA at 1300V 3 Stage Electromagnetic Lens System Objective Lens: 4 opening click stop, heated aperture is selectable/adjustable outside the vacuum system 2-Stage Deflection Scan Coil Astigmatism correction via an 8-pole electromagnetic coil Magnification = 1000x to >150000x Field control method ; Continuously on for sample decharging, at all voltages Wafer imaging ability; Entire surface of 8"" wafer Depth of focus: >= 1.0mm at 80000x magnification Resolution: < 8nm at 700V - 1000V (or < 6nm with optional retarding voltage), < 6nm at 1000V - 1300V Retarding voltage: Optional at <= 800V for improved resolution Hitachi Probe Tip Optical Microscope System: Image is Monochrome, using CCD camera, Magnification is 110x, Wafer imaging X & Y coverage from 5-195mm , notch down Dual XY Hitachi Microscale Workstation, HP B180L Error Tracking Software Multipoint Measurement Function Edge Roughness Function Contact Hole Measurement Function Automated Image Archiving Function Ergonomic Cassette Flipper Option (2 flippers - one per load port) Operations Manual and Documentation.
HITACHI S-8840走査型電子顕微鏡(SEM)は、市場で入手可能な最先端の走査型電子顕微鏡の1つであり、材料の特性評価や研究によく使用されます。半導体やセラミックスなど、多種多様な材料の表面に関する詳細な画像やデータを提供できるモダンでハイエンドなSEMです。HITACHI S8840 SEMは、市場に出回っている他のSEMとは異なる機能を備えています。この顕微鏡は、最大解像度0。50nmの高解像度イメージングシステムを搭載し、デジタル信号処理(DSP)技術を特長としています。画像処理は自動化されており、ユーザーは手動で設定を調整することなく、高品質の画像を取得することができます。さらに、SEMはエネルギー分散型X線 (EDX)分光法を採用しており、分析対象のサンプルの化学組成を特定し、元素マッピングを検出します。S 8840には強力な電子源が搭載されており、幅広い用途で優れた性能を発揮します。また、3D再構築やディープイメージングなどの高度な分析技術もサポートしています。この顕微鏡は、高度なオペレータ制御とユーザーフレンドリーな機能、および包括的なオートメーションオプションを備えています。これに加えて、顕微鏡には自動サンプルローダーが装備されているため、各サンプルを手動で分析準備する必要はありません。S8840によって提供される高品質の画像により、サンプルの最も詳細な機能を観察することができ、幅広い用途に適しています。例えば、顕微鏡を使って材料やナノ構造を微細に精密に調べることができ、試料の原子構造や表面や組成を調べることができます。さらに、スキャン伝送電子顕微鏡(STEM)、環境サンプルチャンバー、フライスキャンイメージング、傾斜スキャン、およびさまざまな倍率スキャンなど、いくつかのイメージングモードも用意されています。全体として、S-8840走査型電子顕微鏡は、優れた機能と優れたイメージング機能を提供するハイエンドSEMをお探しの方に理想的な選択肢です。その高度な機能と強力な電子源により、顕微鏡は正確で詳細な画像を迅速かつ簡単に提供することができます。さらに、そのオートメーションオプションと様々な分析モードへのアクセスは、研究や研究の広い範囲のための優れた選択肢となります。
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