中古 HITACHI S-8820 #9266234 を販売中

HITACHI S-8820 Scanning Electron Microscope （SEM）は、世界中のさまざまな科学研究分野で使用されるハイエンドのベンチトップモデルです。この顕微鏡は、FEG （Field emission gun）と高度な検出システムを組み合わせて、1000から300,000Xの倍率で標本の高解像度画像を得ることができます。HITACHI S 8820のようなSEMは、医学から材料科学まで、様々な分野の標本の表面にわたって豊富な地形分析と化学分析を提供しています。装置のFEGは、画像の精度と精度に非常に重要です。FEGは電子の狭いビームを放出し、ビームの直径はビームの電圧に反比例する。電子ビームの直径も画像の解像度を決定します。より小さいビーム直径はより高い解像度のイメージを可能にします。S-8820のFEGは、3KV、 5KV、 10KV、および「高真空」モードの1KVで動作し、電子ビームの優れた制御を提供します。S 8820スキャン電子顕微鏡は、最適な画質を得るための高度な検出システムを採用しています。さまざまな検出器が試料の試料、体積、表面から反射した電子を一緒に捕捉し、従来の光学顕微鏡よりもはるかに多くのデータを提供します。HITACHI S-8820は、高精度で電子反射信号の数を測定するSE信号検出器と、元素・表面特性解析の改善を目的としたBackScattered Electron Detector （BSD）、深層プロファイルイメージング用に連続可変電圧を持つ二次電子検出器（SED）を提供します。HITACHI S 8820 Scanning Electron Microscopeは二次電子イメージングモードを備えており、試料の構造や構造を事前に確認する必要がなく、多孔質、繊維質、不規則な試料の高速なイメージングが可能です。さらに、S-8820には環境SEM （ESEM）モードがあり、表面処理や表面コーティングの有無にかかわらず、水和または柔らかい材料をイメージするために使用できます。このモードでは、ネイティブの状態でオブジェクトをキャプチャし、より正確な結果を得ることができます。S 8820の柔軟性と範囲により、任意のラボ設定にシームレスに統合できます。この顕微鏡のユーザーフレンドリーな設計と自動化された機能は、科学者に自分のプロジェクトに最も有益な方法で研究を行う自由を与えます。最先端の断層撮影および3Dイメージング機能により、比類のない構造および品質分析が可能です。HITACHI S-8820は、高性能の解像度と簡単なユーザーインターフェースと組み合わせることで、科学者に専門的な研究のための貴重なツールを提供します。