中古 HITACHI S-8820 #293618031 を販売中

HITACHI S-8820 scanning electronmicroscope （SEM）は、幅広いサンプル材料の形態、組成、地形特性に関する情報を提供するために使用される分析機器です。これは、サンプル表面をスキャンするために走査電子ビームを使用して、サンプルから散乱している電子から検出された信号を測定して保存します。SEMを使用すると、選択したサンプル領域から要素組成解析を取得することもできます。HITACHI S 8820は真空システムを強化し、1。0 × 10^-4 Torrまでの幅広いサンプルで安定した性能を発揮します。このモデルは、3段ターボ分子ポンプとロータリーベーンブースターポンプを備えており、湿式および乾式の拡散ポンプと組み合わせて、最適な高真空運転を提供します。フラットパネルモニターとタッチスクリーンパネルは、計器データと制御機能を明確に表示します。SEMには、サンプル中の微細構造、地形特性、元素組成を測定するための高解像度画像を撮影および収集するための高度な二次電子検出器があります。強力なEverhart-Thornley検出器は、低騒音で高解像度の画像を広い被写界深度で提供します。オンボードエネルギーフィルタを使用すると、サンプルから電子信号を収集するエネルギーバンドを選択できます。大判検出器には、安全で再現性のあるサンプルコーティング用の特殊コータユニットもあります。S-8820には、顕微鏡サンプル用のオプションの分析チャンバーもあり、EDX、 EBSD、 WDSなどの現場分析に使用できます。in-situ解析機能により、真空環境を中断することなく、サンプルのリアルタイム観察と分析を実現できます。S 8820の多目的な段階はユーザーがXY、 XYZスキャンを作り、傾きおよび回転、また複数の制御を提供することを可能にします。精密な増分ステップは作り付けの調節の範囲、モーター移動の正確さおよび速度と利用できます。HITACHI S-8820は、強力で汎用性が高く信頼性の高い走査型電子顕微鏡で、高いレベルのサンプル詳細と精密な元素組成解析を提供します。その高度な二次電子検出器、エネルギーフィルター、オプションの分析チャンバーは、ユーザーが迅速かつ効果的にサンプルの広い範囲を観察し、分析する能力を提供します。