中古 HITACHI S-806 #293634215 を販売中
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ID: 293634215
Field Emission Scanning Electron Microscopes (FE-SEM)
Maximum specimen size, 6"
Secondary electron image
Resolution: 6 nm (60 A) - 25 kV
Magnification: 50x - 100,000x
Manual loader, 6"
(3) Ion pumps
Stage controller
Detecter
Turbomolecular pump
Keyboard
Display Unit
Specimen stage:
Movement range:
X and Y: 0 to 150 mm
Stage drive: Pulse motor control
Joystick control (Auto eucentric)
Z (WD): 5 - 35 mm
Rotation: 360°
Tilt: 0 - 60°
Electron optics:
Electron gun: Cold field emission type
Accelerating voltage: 0.5 - 5 kV (variable in 0.1 kV step) / 5 - 25 kV (variable in 1 kV step)
Emission extracting voltage: 0 - 6.3 kV
Lens system: 2-stage electromagnetic lens
Objective aperture: click-stop type 4 openings, alignable outside column, self-cleaning type thin aperture
Scanning coil: 2-stage electromagnetic type
Stigmator: 8-pole electromagnetic type (X, Y)
Control and display system:
Scanning modes
Viewing CRT
Digital image registration computer system.
HITACHI S-806 Scanning Electron Microscope （SEM）は、ナノメートルレベルの解像度で高倍率で標本を見ることができるマルチモード、高性能SEMです。HITACHI S806は、二次電子、後方散乱電子、オーガー電子画像、X線スペクトル、化学状態マップなどの元素特性データを生成することができます。S 806はフィールドエミッションガン（FEG）源を備えており、優れたビーム安定性を提供し、ガス条件による変化を最小限に抑え、より高い精度と測定結果を得ることができます。FEGソースは0。5〜30kVの可変加速電圧を持ち、動作範囲は1〜25kVです。HITACHI S 806は、サンプルの視認性と画像処理能力を最大限に高めるため、スキャンサイズ、解像度、倍率、コントラストを調整するための各種コマンドを搭載しています。SEMサンプルチャンバーは、100 x 100 mmまでのサンプルに十分な大きさであり、環境チャンバーは大気と圧力を制御するために利用できます。S806はまた、ピクセルサイズが5 x 5ミクロンの12ビットSEMイメージング検出器を使用して、ディテールの高い画像を生成します。正確な結果を得るために、S-806はさまざまな検出器とSEMシステムを統合することができます。これらの検出器には、パワー分光計、複合材料の複合分析用の検出器、半定量解析、サンプルの高さを決定するための光検出器などがあります。HITACHI S-806は、従来のステレオ顕微鏡と組み合わせて3D画像を撮影することができます。また、試験片の積み込み、位置決め、測定を簡素化するためのさまざまな自動ステージのオプションもサポートしています。全体的に、日立S806走査型電子顕微鏡の高度な機能は、ナノメートルスケールのイメージングと特性評価に最適です。その汎用性と精度の高い機能、FEGソース、自動ステージサポート、およびさまざまな検出システムにより、幅広い科学アプリケーションで正確な結果を得ることができます。
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