中古 HITACHI S-800 #9387938 を販売中

日立電子走査顕微鏡（HITACHI S-800 Scanning Electron Microscope、 SEM）は、ナノテクノロジーにおける様々な解析・イメージング技術に使用される汎用性の高い高性能機器です。HITACHI S800は、学術研究と産業研究の両方のための汎用性の高いツールであり、最大600万回の倍率で様々な電子マイクログラフを取得することができます。この走査型電子顕微鏡は、高エネルギーの電子ビームを試料に集中させることによって作動し、電子源と制御システムという2つの主要な構成要素を持っています。電子源は熱場発光銃であり、与えられたエネルギーと直径の電子ビームを生成することができる。光学システムには、ビームをフォーカスしてデフォーカスする一連のレンズが含まれており、エネルギーとビーム径を最適な値に設定します。試料ステージは、x、 y、 z軸の3方向に試料を保持して移動させることができます。これにより、ビームはサンプルの表面に沿って円パターンまたはラスターで移動し、さまざまな速度に設定することができます。制御機能は、スキャン前の対象領域を定義するだけでなく、サンプル回転速度、スキャン速度、ビームエネルギー設定を設定するために使用できます。S-800の高性能イメージングおよびデジタルコレクション機能は、解像度測定、元素解析、画像強化、電子後方散乱回折、傾き/シフトスキャンなど、幅広い技術に適しています。低真空スキャン、高分解能測定用の低真空イメージングチャンバーが用意されています。元素解析には、エネルギー分散型X線分光計（EDS）をはじめとする様々な検出器がS800されています。EDS検出器を使用すると、サンプル中の主要な要素とマイナーな要素を識別したり、サンプル原子組成に関する情報を提供したりできます。また、サンプルのさまざまな領域を正確に分析するために使用できる要素マップも提供します。HITACHI S-800 SEMは使いやすさと生産性のために設計されています。人間工学に基づいた設計、直感的なソフトウェア、および包括的なオプションは、あらゆるレベルの研究に適しています。HITACHI S800には、従来の試料用のサンプルホルダーと、角度付きまたは多軸スキャン実験用の傾きおよびシフトステージが付属しています。これは、リモートコントロール機能とデータ分析と評価のためのソフトウェアと画像取得ツールの配列を備えています。