中古 HITACHI S-7840 #293800274 を販売中
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ID: 293800274
ヴィンテージ: 2005
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM)
2005 vintage.
HITACHI S-7840は、日立ハイテクノロジーズが開発した走査型電子顕微鏡（SEM）です。このSEMは、研究開発に最適で、非常に高いレベルの性能と精度を提供することができます。HITACHI S 7840は、高解像度イメージングと測定結果を生成するための多くの先端技術を誇っています。SEMは、収差補正された電界放出電子源（FES）を誇り、高度に制御され、集中したビームエネルギーと照明を可能にします。これにより、ビームS-7840安定性が向上し、コントラストと解像度が向上します。さらに、高レベルのビーム安定性により、高速スキャンと高品質のイメージングが可能です。S 7840には、取得した画像を表示するための大型高解像度ディスプレイも搭載しています。ディスプレイはインストゥルメントの前に配置されており、ユーザーは画像操作と直接比較にアクセスできます。このディスプレイは直感的で直感的なユーザーコントロールを備えており、ユーザーに仕事の柔軟性を提供します。HITACHI S-7840は、高度な画像解析を可能にするデジタル画像解析システムも備えています。このシステムは、幾何学、コントラスト、グラデーション解析を通じて強力なデータ分析機能をユーザーに提供します。HITACHI S 7840は、高度なイメージング技術に加え、サンプルステージも自動化されています。この段階では、サンプルの位置決めと測定を自動化できます。サンプルステージはサンプル交換にも迅速に対応し、正確かつ再現性の高い測定が可能です。S-7840はまたサンプルホルダーおよび付属品の広い範囲と互換性があります。これには、最大400mmのサイズの標本、さまざまな形状の標本、幅広い材料の標本のホルダーが含まれます。S 7840はまた、チャンバー条件を制御するための真空ポンプを内蔵した予備チャンバーを備えています。これは、薄い非導電層で繊細な標本をコーティングするのに特に役立ちます。HITACHI S-7840は、ナノスケールでの幅広い材料サンプルのイメージングと測定のための高度で機能満載のツールです。その高度なイメージング技術と自動サンプルステージは、研究開発に最適なツールです。
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