中古 HITACHI S-7800H #9249263 を販売中
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販売された
ID: 9249263
ウェーハサイズ: 4"-8"
ヴィンテージ: 1998
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 4"-8"
Automatic cassette to cassette wafer loading
Resolution: 5 nm at 1 kV
Throughput: 5 Wafers/Hour
Stage movable range:
X: 0 ~ 200 mm
Y: 0 ~ 200 mm
Z: 4 ~ 12 mm
R: 0 ~ 360°
T: 0 ~ 60°
Chiller
Operations manual included
1998 vintage.
HITACHI S-7800H走査型電子顕微鏡(SEM)は、高性能で高感度な装置で、様々な研究や産業用途に独自の特徴を提供します。この汎用性の高い機器は、高解像度と高スループットの両方の機能を提供しながら、さまざまなサンプルタイプに合わせて調整することができ、イメージングおよび分析技術の範囲を提供します。HITACHI S-7800 Hは、高性能イメージングと分析機能をユーザーに提供しながら、優れた解決力を提供するために設計されています。高度な超高真空(UHV)チャンバーを備えており、高価なメンテナンスや特殊な技術を必要とせずにサンプルの観察と分析を可能にします。また、最新のスキャン技術と統合制御システムと組み込み精度測定機能を備えています。その他の機能としては、専用の二次電子検出器、エネルギー分散分光器(EDS)検出器、背面散乱器および銃電流モニタを備えたデュアル検出器の設計があります。この設計により、より多くの分析情報のための幅広いアプリケーションが可能になります。このユニットはまた、より高い解像度と高品質の画像処理を可能にする電子電界放射銃で構成されています。幅広い分析のための適性は機械のために提供される標本のホールダーの広い選択と可能になります。サンプルステージには複数の運動範囲があり、標本の正確な位置決めや分析やイメージングのための自動操縦が可能です。自動ステージコントロールツールは、簡単で正確なサンプル位置も提供します。高度なイメージングおよび解析機能を備えたS-7800Hは、幅広い用途に理想的な機器です。また、直感的で操作しやすい専用ソフトウェアを多数搭載しています。これらのソフトウェアパッケージには、3D画像の再構築、解析ルーチン、オーバーレイおよびモンタージュソフトウェア、計測およびデータ収集ソフトウェアが含まれます。さらに、このアセットはユーザーに高度な接続オプションを提供し、他の機器やデータ分析プラットフォームとの相互作用を可能にします。要するに、S-7800 H走査型電子顕微鏡は、さまざまな研究および産業用途に理想的な機器であり、ユーザーに強力なイメージングおよび分析機能のユニークな配列を提供します。
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