中古 HITACHI S-7800H #293641909 を販売中

製造業者
HITACHI
モデル
S-7800H
ID: 293641909
ウェーハサイズ: 2"
ヴィンテージ: 1997
Scanning Electron Microscope (SEM), 2" Main unit (2) Controllers (3) Power supplies 1997 vintage.
HITACHI S-7800Hは、高分解能イメージングおよび各種標本タイプの特性評価用に設計された走査型電子顕微鏡(SEM)です。これは、高度なシングルチルト検出器のコラムとスキャン段階を備えており、広い視野と優れた画質を提供します。顕微鏡のコンパクトな設計と人間工学的な特徴により、実験室と現場での使用に適しています。最先端の画像処理技術とソフトウェアにより、故障解析、材料研究、冶金イメージングなどのアプリケーションに最適です。HITACHI S-7800 Hのシングルチルト検出器カラムには、二次電子(SE)のイメージング検出器、後方散乱電子(BSE)の背面散乱電子検出器、二次および三次回折のためのより大きな領域検出器(DDスペクトロメータ)、高分析計。イメージング検出器の最大解像度は1。25 nm、視野は最大5。0 mmです。背面散乱電子検出器の解像度は1。0 nmで、視野は最大10 mmです。より大きな領域検出器の解像度は2。5nmで、視野は最大6。7mmで、最大EDS数は46万cpsです。S-7800Hのスキャンステージの最大速度はX方向とY方向で180cm/sで、最大移動範囲はX座標とY座標で40mmです。ステージにはDA(差動アレイ)信号とモーターブレーキの接続ポイントが装備されており、自動運転に適しています。この顕微鏡の内蔵デジタルイメージング機能には、最大360°の試験片の回転とX、 Y、 θ座標の位置決めが含まれます。ユーザープリセットは関連するパラメータに保存でき、分析ソフトウェアにはさまざまなデータ分析機能と高度な機能があります。S-7800 Hは、最新の材料研究、故障解析、冶金のニーズを満たすように設計された強力でデータ豊富なイメージングシステムです。その洗練された機能と技術により、ユーザーは高精度、高解像度、詳細な実験を画像、分析、実行することができます。
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