中古 HITACHI S-7280H #293770170 を販売中

HITACHI S-7280Hは、電子ビームを用いて非常に詳細なサンプルを観察・分析するために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。視野と解像度が印象的で、他の種類の顕微鏡検査よりも詳細に試験片を調査することができます。SEMは、画像解像度、ピクセルサイズ、信号強度、信号対ノイズ比、倍率、およびサンプル内の元素および形態情報などの定性的および定量的な情報を得るために使用できる二次および後方散乱電子を生成します。S-7280Hは、高コントラスト画像を表示することができ、高感度、範囲、ノイズ比への情報信号を備えた高性能のインレンズ二次電子検出器を装備しています。この顕微鏡は、高い焦点深度、広いダイナミックレンジ、高い数値開口率、高い作動距離を有しており、優れた透明度でさらに深い物体のイメージングを可能にします。また、日立S-7280Hには、ナノメートルからマイクロメートルまでの大きさの標本の観察・分析を可能にする、in-situおよびex-situ観測用のユニークなデュアルポートがあります。S-7280Hは、3Dイメージングや再構築トモグラフィー（3DCT）、真空顕微鏡、X線粒子解析、結晶解析、電子ビーム誘導電流（EBIC）など、さまざまな分析および処理機能を提供しています。さらに、この顕微鏡は、エネルギー分散分光法（EDS）や波長分散分光法（WDS）などの分析システムと組み合わせることで、サンプルの元素組成を得ることができます。さらに、オートフォーカス、ステージスキャン、操作、ドリフト補償、サンプル加熱など、多くのオートメーションオプションを備えており、時間を節約し、調査の正確性を確保します。また、取得した画像の表示や解釈だけでなく、すべての機能やパラメータを直接制御するためのユーザーフレンドリーなインターフェースも備えています。HITACHI S-7280Hは、半導体、材料科学、生物学の分野での使用に特化して設計されており、このようなアプリケーションに優れた性能を提供します。