中古 HITACHI S-7000 #9282901 を販売中
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ID: 9282901
ウェーハサイズ: 4"-6"
ヴィンテージ: 1989
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 4"-6"
Secondary electron image resolution: 15 nm (150 angstroms) at 1 kV
Magnification: 100x to 100,000x
CD Measurement Range: 15 Å (15 nm)
Re-producibility: ± 0.02 µm / ±1%
Electron beam source: Field emission electron gun
Accelerating voltage: 0.7-3 kV (100 V/Step)
Measurement range: 0.1- 200 µm
Auto-focus and auto-stigmation
Automated CD measurement
Multi point measurement capability
Programmable stage: Up to 60° Tilt
1989 vintage.
HITACHI S-7000走査型電子顕微鏡（SEM）は、科学者や技術者のための汎用性と強力なイメージングツールです。3ナノメートルの解像度と最大10万倍の倍率を達成する能力を持っています。S-7000 SEMは、高速な画像取得と幅広いイメージング機能を提供します。HITACHI S-7000は、電子と対象物質の相互作用を利用して画像を生成します。インシデント電子は、サンプルと相互作用する前に一連のレンズを通過します。この相互作用は、サンプルの画像を作成するために使用できる一連の二次電子と後方散乱電子を作成します。スキャンシステムを使用S-7000と、ユーザーは大きな表面積を調査したり、細かい詳細をよく見ることができます。HITACHI S-7000には、手動およびコンピュータ制御のサンプルマニピュレータが含まれています。これにより、検出器の視野でサンプルを簡単に移動、回転、傾けることができます。選択したレンズを使用すると、アプリケーションに最適なイメージング設定を選択できます。S-7000 SEMには高度な定量画像解析システムが搭載されており、サンプルのサイズや形状をより正確に測定することができます。この機能により、日立S-7000は特に形態学的な研究や測定に適しています。S-7000 SEMには、必要に応じてX線、 EDS、 EELS、 CL、 BSE画像をキャプチャすることができます。SEMには、サンプル実装用のステージと、簡単に取り外して交換できるin-situ真空チャンバーが含まれています。HITACHI S-7000は、高信頼性、高精度、汎用性の高い走査型電子顕微鏡を必要とするあらゆる研究プロジェクトや設定に最適です。高解像度イメージング、高度なイメージング機能、および幅広い定量イメージング解析機能を備えたS-7000は、あらゆる背景の科学者やエンジニアにとって理想的な選択肢です。
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