中古 HITACHI S-7000 #9269129 を販売中

HITACHI S-7000は、分析・研究用途向けに設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。それは優秀な決断、対照およびスループットの優秀な組合せを提供する高度の器械です。さらに、S-7000には電動サンプルステージが装備されており、測定の精度と再現性が大幅に向上します。HITACHI S-7000には、最大2つの異なるスタイルの銃で使用できるように設計された可変式砲室があります。これにより、ユーザーはさまざまな種類の分析とイメージングをすばやく簡単に切り替えることができます。最初の銃は20kVの加速電圧と、コールドフィールド放出（CFE）電子源を備えた高分解能スキャンで、0。2ナノメートルの分解能を可能にします。2つ目の銃は低電圧画像のために設計されており、LaB6電子源を備えており、より高いコントラストを持つ画像に対してより高い電流密度を提供します。S-7000には、特許取得済みのスキャニングマイクロトームシステム（SMTS）もあります。3次元サンプルでの正確な断面と画像処理を可能にし、興味のある特徴を詳細に測定することができます。サンプルステージは電動化されており、ユーザーは再現可能な測定と画像処理を正確に実行できます。HITACHI S-7000は、多彩なアプリケーションを可能にする汎用性の高い機器です。二次電子検出器、後方散乱電子検出器、低角度の後方散乱検出器など、さまざまな種類の検出器に対応できるように設計された汎用性の高い検出器システムを備えています。S-7000は、マッピング、オーバーレイ、トモグラフィーなど、幅広いソフトウェアアプリケーションにも対応しています。HITACHI S-7000には、さまざまな画像操作ツールが搭載されています。これらのツールは、コントラストの強化、偽色、解像度の操作などの画像のオプションをユーザーに提供します。さらに、S-7000はサンプルアライメントおよび自動測定のための自動機能をサポートしています。HITACHI S-7000は、広範な研究アプリケーションに対応できるように設計された先進的なSEMです。優れた解像度、コントラスト、スループット、および幅広いソフトウェアアプリケーション、画像操作ツール、自動化された機能を提供します。この装置は、サンプル内での詳細なイメージングと測定を可能にし、材料構造と特性の高度な研究を可能にします。