中古 HITACHI S-7000 #76295 を販売中

HITACHI S-7000 Scanning Electron Microscope （SEM）は、最先端の科学機器です。S-7000は、さまざまな環境でサンプルを研究し、ナノスケールレベル（解像度1マイクロメートル未満）で詳細な画像を提供するために使用される高精度なツールです。SEMは、信頼性の高い画像を作成するために、電子ビームといくつかのコンポーネントを使用して検出、フォーカシング、イメージングを行います。高電圧電源は、電子ビームを最大30KVまで加速することができ、低倍率から高倍率までの解析が可能です。その後、コンデンサーレンズは電子ビームをサンプルに集中させ、検出器を使用して地形画像用の逆散乱電子を検出することができます。この検出器はまた、X線分光計からの信号を検出することによって元素マッピングを可能にします。HITACHI S-7000は、精度と精度を最大限に高めるために、ソフトウェア制御とハードウェア制御の両方を備えた完全にコンピュータ化された機器を使用しています。広範な動作条件で正確な画像を生成し、最高レベルの画像鮮明度を維持するように設計されています。また、S-7000の先進的な電動制御システムにより、SEMは手動での調整が不要で一貫して動作することができます。また、HITACHI S-7000は、試料を安全かつ容易に自動ユニットを介して翻訳、回転、操作できる「サンプルハンドリング」システムを内蔵しています。言い換えれば、S-7000は手動の標本処理の必要性を排除し、画像処理中に汚染や標本が損傷するリスクを大幅に低減します。また、HITACHI S-7000は、サンプルの種類や動作パラメータに応じた多様な変数を生成することができます。これは、このSEMの機能が異なる条件下で非常に適応性と信頼性があることを意味します。全体として、S-7000は微細構造およびナノ鏡検査のサンプル分析にとって非常に貴重なツールです。HITACHI S-7000は、幅広い運用柔軟性、正確なイメージング機能、自動サンプルハンドリングマシンを備えた、卓越した標本イメージングツールです。