中古 HITACHI S-6100 #9144954 を販売中

HITACHI S-6100は、材料や構造の内部の高解像度画像を提供するために設計された高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。電子光学、電子ビーム、検出器、X線検出器を利用してビジュアルを作成しています。さらに、X/Y/Zのモーター制御と傾きを備えたサンプルステージを備えており、より良いイメージングのためにサンプルの正確な操作と調整を可能にします。HITACHI S 6100の主な構成要素は、電子銃、電子レンズ、電子検出器、X線検出器です。電子銃は電子レンズを介して加速し、焦点を合わせた電子を提供し、異なる倍率で画像を作成することができます。電子検出器は、使用されている倍率の表示とともに生成されているディスプレイ上の画像を表示することができます。X線検出器は、サンプルのX線スペクトルを提供し、ユーザーはより高い精度で元素の内容と分布を分析することができます。S-6100は、形態、表面の特徴、および内部の特徴の高解像度、3D画像を提供することができます。二次電子イメージング（SEI）モードと後方散乱電子イメージング（BEI）モードにより、イメージング機能がさらに強化されています。SEIを使用すると、ユーザーはサンプルの表面ビューを見ることができ、BEIを使用すると、ユーザーは表面と内部機能を見ることができます。S 6100には自動化されたステージがあり、システマティックなスキャン領域、ステレオイメージング、傾斜画像、モザイク処理などの簡単なルーチンを実行するために事前にプログラムすることができ、より細かい解像度でより大きなサンプル領域のイメージングを可能にします。さらに、傾斜ステージは、いくつかの角度と回転で傾く能力を持つサンプルのより高い調整と操作を可能にします。最後に、HITACHI S-6100には、X線マイクロアナリシス、電子逆散乱回折（EBSD）、および自動ハイパボリュームマッピング（AHVM）を含む高度な解析スイートがあります。これにより、ユーザーは表面の地形だけでなく、サンプルの内部構造、組成、結晶方向も分析することができます。HITACHI S 6100は、高度なイメージングおよび解析機能を提供する高性能SEMです。その洗練された設計により、解像度の向上、イメージングの向上、分析能力の向上が可能になり、サンプルのより詳細な分析が可能になります。高度なイメージングおよび解析機能を活用することで、固体材料からより詳細な情報を抽出し、その構造と特性をよりよく理解することができます。