中古 HITACHI S-6000 #293652751 を販売中

HITACHI S-6000 Scanning Electron Microscope （SEM）は、日常的な材料分析から先進的な技術開発まで、幅広い用途向けに設計された高性能分析ツールです。高解像度の低電圧、最先端のフィールド放出電子源、高度なイメージングシステム、強力なソフトウェアを搭載し、解像度とコントラストを向上させ、さまざまな分析オプションを提供します。HITACHI S 6000 SEMは、X線エネルギー分散（XEDS）分光法、X線蛍光解析（XRF）、二次電子イメージングなどの革新的な分析技術を提供し、非電導表面と導電面と材料の両方のイメージングと分析を行います。S-6000は、高度なイメージング機能と幅広い自動測定機能を提供します。高解像度イメージングにより、細かい特徴を検出し、寸法情報を高精度に測定することができます。0。6nmまでの解像度を実現し、高コントラストで鮮明な解像度を維持できます。画像は最大5,000倍まで拡大することができ、ユーザーは非常に小さなオブジェクトを表示および分析することができます。統合されたソフトウェアスイートには、画像の最適化、可視化、分析のためのさまざまなツールが含まれており、ユーザーは素材の迅速な特性評価、機能の検索と測定、および詳細なレポートの作成を可能にします。S 6000は、二次電子、バックスキャッター、X線イメージング検出器などのさまざまな検出器を備えており、広範囲の倍率、優れたコントラスト、解像度を画像に提供します。この装置は、X線元素マップ、ラインスキャン、X線スペクトルなど、さまざまな種類のX線スペクトルを収集するために設定することができます。これらのイメージングと分析手法を組み合わせることで、材料の組成や特性を微細レベルで測定することができます。HITACHI S-6000の高度なソフトウェアと自動化により、サンプルデータを効率的に分析および報告することができます。ソフトウェアスイートには、粒子分析、自動ピッチ測定、穀物測定分析、膜厚測定など、さまざまなユーザーフレンドリーな分析ツールが含まれています。この機器には、複数のユーザーがデータにアクセス、保存、取得できる大容量記憶装置が装備されており、共同研究が可能です。HITACHI S 6000は全体的に高性能な分析用SEMで、様々な研究や産業用途に適しています。その強力なイメージングと分析機能は、ソフトウェアツールとオートメーションと組み合わされ、材料の特性評価に最適なツールです。この装置は、高解像度、優れたコントラスト、およびサンプルを正確に分析し、詳細なレポートを迅速かつ効率的に生成するのに役立つ自動測定機能の範囲を提供します。