中古 HITACHI S-570 #293592480 を販売中

製造業者
HITACHI
モデル
S-570
ID: 293592480
Scanning Electron Microscope (SEM) Resolution: 2.5 nm Magnification: 20 to 100,000x, 12-100,000x Filament: Pre-centered LaB6 Maximum beam current: 300 µA Auto bias Alignment: 2-Stage electromagnetic alignment Lens: 3-Stage electromagnetic lenses Stigmator coil: Electromagnetic type Scanning coil: 2-Stage electromagnetic type Objective: Movable aperture Maximum specimen size: 150 mm Specimen stub size: 6 mm Ultra high resolution: 50 mm Specimen exchange: Air leak Motion range (Large stages): X: 0-40 mm, 0-100 mm Y: 0-40 mm, 0-50 mm Z: 5-35 mm, 20-60 mm Tilt: -20°-+90°, 0°-60° Rotation: 360° Power supply: 0.5-3 kV, 100 V / 3-30 kV, 1 kV.
HITACHI S-570走査型電子顕微鏡(SEM)は、優れた性能と高度な機能を提供し、幅広い材料科学研究アプリケーションをサポートします。HITACHI S 570はクラス最高の解像度を提供し、動作距離30mmで1。2nm、動作距離6mmで0。8nmまでの解像度を提供します。この機能により、個々の原子や分子のイメージングが可能になり、新しい材料やナノ構造の研究と特性評価が可能になります。S-570走査型電子顕微鏡は、検出器の構成の多様な範囲を提供しています。これには、二次電子検出器、後方散乱電子検出器、EDX、 EBSD、 SDD検出器などの様々なサンプルテイクシステムが含まれます。その結果、S 570はナノマテリアルのイメージングや解析からライフサイエンス研究まで、学際的な応用に適しています。HITACHI S-570は、高度な電子光学カラム設計の恩恵を受けています。これには、高度な汚染制御が含まれており、高いレベルの画像解像度を達成するための鍵です。さらに、カラムの機械設計により、高精度を必要とするSEMアプリケーションに不可欠なドリフトや振動がなく、動作中もSEMが完全に安定した位置に保たれます。HITACHI S 570は、柔軟で使いやすい楽器として設計されています。その機能には、画像解析機能、4電子銃の構成、プログラム可能な倍率制御などがあり、ルーチンおよび高度なSEMイメージングアプリケーションの両方で高い生産性を実現します。また、高度なユーザー制御ドリフト補正も含まれています。これは画像を正確かつ迅速に取得するために重要であるため、スキャンに要する時間を短縮することができます。S-570は、さまざまな自動化およびモーションコントロールシステムと完全に互換性があり、複雑なSEMイメージングタスクを迅速かつ簡単にセットアップできます。さらに、オープンプラットフォームにより、さまざまなイメージングシステムやオートメーションソフトウェアと容易に統合でき、利用可能なイメージングアプリケーションの範囲を拡張できます。最後に、S 570は競争力のある価格で優れた性能を提供するように設計されています。これにより、高解像度のイメージングと解析を必要とする材料科学アプリケーションにおいて、日立S-570は理想的な選択肢となります。
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