中古 HITACHI S-570 #177900 を販売中

HITACHI S-570は、多種多様なサンプルの高解像度イメージングと定量分析の両方を目的とした走査型電子顕微鏡（SEM）です。この装置は、優れた画質と高いスループット性能を特徴とし、より迅速なサンプル分析を可能にします。主成分は、電子銃、コンデンサーカラム、電子検出器、高張力電源、高度なソフトウェアコントロールで構成されています。電子銃は、コンデンサーカラムによってサンプルに焦点を当てた電子を生成します。これらの焦点電子は試料と相互作用し、検出器によって検出される二次電子とX線を生成します。検出器がサンプルからデータを取得すると、ユーザーによって制御されたソフトウェアが最初に処理し、結果の画像を表示し、その後、イメージングパラメータやさらなるデータ分析の調整を可能にします。システムのフルフィールドハイパフォーマンスタイプ検出技術により、光電子信号を強化した低ノイズ画像を実現します。このような特徴だけでなく、ユニットのエネルギーフィルター、回転可能なステージとインテリジェントなフォーカシングアシストは、画像速度を遅くすることなく優れた解像度を提供します。HITACHI S 570の新機能であるEverHaloは、特許出願中のコントラスト制御技術をベースに、ハイパーコントラスト検出プロセスとデジタルイメージ処理を活用して画像忠実性を向上させ、検出信号強度をさらに向上させます。これにより、透明でコントラストの高い画像を高精度に表示しながら、検出幾何学による色収差を同時に防ぎ、コントラストの優れた物体を観察することができます。これに加えて、S-570の高度なソフトウェアスイートは定量的な分析を可能にします。電子エネルギー損失分光法（EELS）から電子逆散乱回折（EBSD）まで、幅広い変数を素早く簡単に測定することができます。このツールから最高レベルの性能が期待されるため、自動化されたウェーハクリーンおよびステージクリーニングシステムにより、信頼性の高い実験の繰り返しと再現可能なパフォーマンスが可能になります。したがって、S 570スキャン電子顕微鏡は、高解像度のイメージングおよび定量分析機能をユーザーフレンドリーなパッケージで提供する強力で汎用性の高い機器です。これにより、研究者はサンプルの理解を迅速かつ効率的に得ることができ、研究目標をさらに進めることができます。