中古 HITACHI S-570 #134826 を販売中

HITACHI S-570 Scanning Electron Microscope （SEM）は、フル機能の統合イメージングソリューションです。HITACHI S 570は、高解像度の二次電子、逆散乱した電子、広範囲のイオン信号をキャプチャすることができる、高性能な電子カラムとデジタルコントローラを採用しています。この汎用性の高いSEMは、研究用途と産業用途の両方で使用するために設計されており、妥協のない品質の高解像度画像を生成することができます。S-570は、最大解像度2。0nmの超高性能MSD（マルチステップ検出器）を搭載しています。この優れた解像度により、構造の詳細を把握し、表面構造を識別することができます。また、高電圧電源は30kV〜30MVの高電圧化が可能で、効率的なイメージングに優れたコントラストを発揮します。S 570には、加速電圧、スポットサイズ、輝度を同時に調整できるデュアルステージオートメーションシステムも装備されています。これは、全体的な画像安定性を維持しながら、理想的に照らされた興味のある明確な領域で、試験片の検査の柔軟性を高めることができます。統合されたデジタルイメージングシステムには、液晶ディスプレイ、画像解析、画像処理機能が含まれています。Auto Size ZoomやAuto Frame Stabilizerなどの機能は、ユニークな使いやすさを提供します。さらに、イメージキャプチャモードでは、USBフラッシュドライブやデジタルカメラなど、さまざまな目的地への画像転送が可能です。HITACHI S-570は、試料ホルダー、EDS検出器、マイクロアナライザ、X線検出器、SEMスキャンおよびEDX解析用のデュアルディテクタなど、さまざまな付属品と組み合わせることができます。この装置はまた、異なるX線信号を同時に検出することを可能にするPulse Count Detectionシステムを提供します。HITACHI S 570には、試験片の詳細な解析が可能な専用ソフトウェアも多数付属しています。これらのソフトウェアアプリケーションには、3Dアライメントとプロファイルの設計と製造のためのCADRA、コンピュータ支援部品識別のためのPartFinderが含まれます。最後に、この優れたSEMは、エンジニアと技術者に包括的なヘルプ、アドバイス、サポートを提供するアフターサービスとサポートソリューションによって支えられています。要するに、S-570は優れた画質、デュアルステージオートメーション、優れたデジタルイメージング機能を備えた高度で完全に統合されたスキャン電子顕微鏡です。革新的なMSD検出器、高解像度機能、付属アクセサリの範囲を備えたS 570は、優れた性能、柔軟性、信頼性を研究者およびエンジニアに提供します。