中古 HITACHI S-5200 #9309409 を販売中

HITACHI S-5200
製造業者
HITACHI
モデル
S-5200
ID: 9309409
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
HITACHI S-5200走査型電子顕微鏡(SEM)は、半導体等の物理的・電気的特性の解析を目的とした高分解能イメージング装置です。このモデルは、高度なフィールド放射技術と通常のステージ領域よりも大きいため、故障解析、3D X線画像、欠陥検査に特に適しています。HITACHI S 5200は、さまざまな基板やサンプルサイズに対応するため、幅広い温度・防塵条件での作業が可能です。高速スキャンと可変加速電圧を5KV-30KVした優れた解像度により、ナノメートルスケールまでのサンプルの迅速な特性評価と分析に適しています。S-5200は、形態、組成、分布パターンなどのサンプル特性を決定するために不可欠なツールです。コントラストと分解能の強化のための組み込みモードの広い範囲は、サンプルの物理的および電気的特性に関する情報を明らかにする寸法的に正確な画像とスペクトルのキャプチャを容易にします。S 5200にはHDS (Hybrid Detector System)が搭載されており、これまでにない画像の明るさとコントラストを制御できます。また、実験の計画と実行のための専用ソフトウェアも備えているため、ユーザーは手動で介入することなく、実験のパラメータを調整して最適なパフォーマンスを得ることができます。HITACHI S-5200は、光学顕微鏡に加えて、IEA (Image Education and Analysis)プログラムを導入し、データの取り込みと分析を容易にしています。調整可能な解像度と感度設定により、ユーザーはサンプル内のさまざまな機能を識別し、画像全体で一貫した正確な精度で定量化できます。HITACHI S 5200は、画像の取得と処理をさらに容易にするために、さまざまな自動機能をサポートしています。これには、自動センタリング、自動ステッチ、および自動フォーカスが含まれます。さらに、広い視野と高解像度の機能を組み合わせることで、サンプルの広い領域を鮮明かつ詳細に画像化することができます。全体として、S-5200走査型電子顕微鏡は、様々なサンプルを精度と精度で特徴付け、分析するための強力なツールです。その汎用性の高い機能と高輝度イメージング機能により、ユーザーは自信を持ってサンプルのナノスケールの詳細を探索することができます。
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