中古 HITACHI S-5200 #9265145 を販売中

HITACHI S-5200は、ナノメートルサイズまでの精密なイメージング機能を提供する走査型電子顕微鏡（SEM）です。レンズの使用を排除した新しいレンズレスSEM装置を採用し、精度と精度を高めたサンプル機能をキャプチャできます。HITACHI S 5200は、高速イメージングに最適なマイクロチャネルプレート（MCP）検出器を採用しています。これにより、従来のSEMシステムに比べて画像取得速度が大幅に向上し、動作速度が向上し、生産性が向上しました。S-5200により、ユーザーは手動または自動モードで画像をキャプチャできます。マニュアルモード機能により、顕微鏡の動作距離を設定できます。この便利な機能により、試料と検出器の間の距離を調整することができ、試料試験に素晴らしい柔軟性を提供します。さらに、S 5200は自動的に画像の焦点レベルを調整する自動画像集中システムを備えており、長期的に効率的な画像取得プロセスを実現しています。HITACHI S-5200には、倍率レベル（最大803,000倍）と解像度レベル（最大2nm）が豊富に用意されています。高解像度の検出器は2048×2048ピクセルで、ナノ構造の細かなディテールを効率的かつ明確にキャプチャできます。ノイズ除去機能により、ノイズのない画像キャプチャプロセスが可能です。また、HITACHI S 5200は革新的なイオンビーム（DIB）ユニットを備えており、高い空間分解能で試験片の精密なマイクロサージャリーを可能にします。高感度のX線検出器を搭載S-5200、高分解能エネルギー分散分光法（EDS）元素解析が可能です。この革新的な機能により、S 5200は保存されたサンプルの組成を非常に高い精度と感度で識別することができ、ユーザーは原子レベルまでのナノ構造の組成を探索することができます。HITACHI S-5200にはオプションの低ボラティリティエネルギーステージマシンも付属しています。これにより、異なる形状の粒子の正確なイメージング機能も可能になります。結論として、HITACHI S 5200は、ユーザーがこれまでにない精度とディテールでナノ構造を探索し、研究することができるさまざまな機能を備えています。また、拡大・分解能レベル、低汚染段階、元素分析用の印象的なX 線EDS検出器も豊富に用意されており、ますます精度を上げたサンプルの組成を探索することができます。