中古 HITACHI S-5200 #9236135 を販売中
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ID: 9236135
ヴィンテージ: 2003
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Resolution:
0.5nm (Accelerating voltage 30kV), Sample height: 0.5mm
1.8nm (Accelerating voltage 1kV), Sample height: 1.5mm
Magnification:
High magnification mode: ~800 x 2,000,000
Low magnification mode: ~60 x 10,000
Electric gun type: Cold cathode field emission electric gun
Extraction voltage (Vext): 0 ~ 6.5kV
Acceleration voltage: 0.5 ~ 30kV
Lens: 3-Stage electromagnetic lens reduction system
Objective lens aperture: Variable aperture
Astigmatic correction: Electromagnetic method
Scanning coil: 2-Stage electromagnetic deflection system
Sample fine movement apparatus:
X: +/- 3.5mm
Y: +/- 2mm
Z: +/- 0.3mm
T: +/- 40°
2003 vintage.
HITACHI S-5200 Scanning Electron Microscope (SEM)は、原子スケールまたはナノメートルスケールで標本の表面をイメージングするための強力なイメージング装置です。この顕微鏡は、高解像度イメージングと高速取得速度を組み合わせており、幅広い研究用途に最適です。主な画像処理技術は、走査型電子ビームを利用し、サンプルから放出された二次電子を収集して画像を形成します。二次電子は、最大30kVの加速電圧で収集することができ、最大10nmの微細な表面特徴を観察することができます。HITACHI S 5200は、生体試料や無機試料を含む様々な試料を乾燥状態または湿潤状態で撮影することができます。この装置には、軽元素の検出とptychographicイメージング機能、およびバルクサンプル用の内蔵イオンビームミリング機能も含まれています。グラフィカルユーザーインターフェイスを備えた直感的な制御システムを備えています。最大xx、 xxxの倍率を達成し、0。1nm以上の解像度を得ることができます。さまざまなステージ、ゴニオメーター、環境セルなどのアクセサリーも、サンプルの分析に役立ちます。このユニットには、エネルギー分散型X線分光検出器(EDS)が内蔵されており、サンプル内の要素分布を分析することができます。EDS検出器によって収集された画像と電子画像を組み合わせて、元素分布マップを生成します。この機能により、S-5200は材料科学やナノテクノロジーなどの分野のイメージング用途に適しています。S 5200には、外部モニターでライブまたはキャプチャした画像を表示するための内蔵のデジタルビデオ出力機能も含まれています。この機能は、大勢の人と画像を共有するのに便利です。ソフトウェアは、ユーザーが簡単にサンプルを画像化して分析できるように提供されています。これには、リアルタイム処理や測定などの機能が含まれています。結論として、日立S-5200走査型電子顕微鏡はナノメートルスケールで比類のないイメージング機能を提供します。幅広い研究アプリケーションに役立つさまざまな機能を備えており、高度に自動化されたユーザーフレンドリーです。イメージングと分析機能の組み合わせにより、このマシンは今日市場で入手可能な最も強力な機器の1つになります。
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