中古 HITACHI S-5200 #293778227 を販売中

HITACHI S-5200は、固体物体表面の高分解能イメージングや解析に使用される走査型電子顕微鏡（SEM）です。電子顕微鏡の一種で、電子の集光ビームを用いて、画像化・解析している物体の画像を生成します。HITACHI S 5200は、操作とメンテナンスを容易にする革新的な設計を備えた高性能スキャン電子顕微鏡です。SEMは、電子源を使用して電子を試料表面に集中させることによって機能します。電子ビームはラスター状のパターンで表面をスキャンし、サンプルと相互作用する電子を検出して画像形式で記録します。S-5200は5ナノメートルまでの非常に高い分解能を備えており、小さな粒子の表面を調べ、サンプル表面の細部を分析するのに最適です。この顕微鏡は、二次電子イメージングモードまたは後方散乱電子イメージングモードのいずれかで動作できます。二次電子イメージングモードでは、試料と相互作用した後に電子を浅い角度で分散させ、検出器に衝突する際に二次電子を検出して画像を作成します。後方散乱電子イメージングモードは、試料から離れた電子を検出し、検出器に戻ることによって、試料のシルエット画像を形成します。S 5200はまた、ユーザーにさまざまな洗練されたレンズと検出器を提供しています。2つの異なる検出器がSEMで利用可能です。Everhart-Thornley検出器とインレンズ検出器。Everhart-Thornley検出器は、サンプルから二次電子と後方散乱電子の両方を検出することができます。インレンズ検出器は、試料から非弾性散乱の電子を検出することができます。HITACHI S-5200は、電子ビームを干渉することなく配備するために必要なマイクロ真空環境を作り出すための真空チャンバーを備えています。チャンバーは1x10-6Paの最小圧力で動作するように設計されており、サンプルが外部汚染から保護されていることを保証します。チャンバーには、残留ガスを排出するために使用されるいくつかのポートが装備されており、SEMにさまざまなアクセサリを設置することができます。HITACHI S 5200は、高精細・高解像度のSEMイメージング・解析に最適な装置です。その革新的な設計とユーザーフレンドリーなオペレーティングシステムは、さまざまな高度な研究アプリケーションに適しています。