中古 HITACHI S-520 #187760 を販売中

HITACHI S-520 Scanning Electron Microscope （SEM）は、表面および材料分析に使用される最先端のイメージングツールの1つです。それは23万回まで拡大することができ、便利な高度な機能の広い範囲を提供しています。このタイプの顕微鏡は、電子の集束ビームを使用して非常に詳細な画像を生成し、サブミクロンレベルまで標本の内部構造を明らかにすることができます。このシステムには、元素分析用のエネルギー分散X線検出器（EDX）、イメージング用の二次電子検出器、後方散乱電子イメージング用の電子伝送検出器、粒子分析用の特別な電子分散X線検出器（EDX）など、多数の直接検出器オプションがあります。S-520は、金属、セラミックス、複合材料、半導体、ナノ構造、生物サンプルなどの多くの材料にも使用できます。背面散乱電子（BSE）および二次電子（SE）検出器を使用して表面地形や欠陥マッピングを検出することができ、EDX検出器を使用すると元素データを取得してサンプルの化学分析を行うことができます。HITACHI S-520のチャンバーは、サンプルの汚染を低減し、観察された画像の鮮明性を向上させるために、高真空で維持されています。また、オートチルトや高速オートコリメーションなどの強力な機能を備えており、最適なイメージングを得るためにサンプルの向きを調整することができます。S-520は、手動および自動サンプルスキャンとイメージングの両方をサポートし、限られた期間で大量の高解像度画像を取得する能力を大幅に強化します。このシステムは、冷却ユニット、高温ステージ、充電エリミネータなど、幅広いオプションのアクセサリーを備え、コンパクトで高度にカスタマイズ可能です。ソフトウェアインターフェイスはユーザーフレンドリーで、ユーザーのアプリケーションニーズに適応することができます。全体として、HITACHI S-520 Scanning Electron Microscopeは、マクロからマイクロまで、さまざまな材料の内部構造を可視化し、分析することができる柔軟で高効率なイメージングツールです。その高解像度機能と幅広い高度な機能により、さまざまな科学および産業用途に最適です。